[發明專利]檢測器電路

有效

• 申請號: 201210079122.5
• 申請日: 2012-03-16
• 公開（公告）號: CN102692541A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: 中本裕之
• 申請（專利權）人: 富士通半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R15/14
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴

1.一種檢測器電路，包括：

第一二極管，交流信號被輸入到該第一二極管的正極并且恒定電壓被提供到該第一二極管；

第二二極管，所述恒定電壓被提供到該第二二極管；以及

差值電流生成電路，該差值電流生成電路生成在所述第一二極管中流動的第一電流與在所述第二二極管中流動的第二電流之間的差值電流。

2.根據權利要求1所述的檢測器電路，其中

所述差值電流生成電路包括：

第一電流鏡電路，該第一電流鏡電路設在所述第一二極管的負極側并且生成第三電流，該第三電流的電流值是所述第一電流與第一電流鏡像比的乘積；

第二電流鏡電路，該第二電流鏡電路設在所述第二二極管的負極側并且生成第四電流，該第四電流的電流值是所述第二電流與第二電流鏡像比的乘積；

第三電流鏡電路，該第三電流鏡電路生成電流值是所述第三電流與第三電流鏡像比的乘積的第五電流，或者電流值是所述第四電流與所述第三電流鏡像比的乘積的第六電流；以及

耦合有所述第五電流的路徑和所述第四電流的路徑的耦合節點，或者耦合有所述第六電流的路徑和所述第三電流的路徑的耦合節點，其中

所述差值電流是在耦合節點處生成的。

3.根據權利要求2所述的檢測器電路，還包括校準電路，在所述交流信號的輸入停止的狀態下，所述校準電路可變地設定所述第一、第二和第三電流鏡像比中的至少一者以使得所述差值電流被減小。

4.根據權利要求1所述的檢測器電路，其中

所述恒定電壓經由第一電阻器施加到所述第一二極管的正極并且經由第二電阻器施加到所述第二二極管的正極，

所述檢測器電路還包括校準電路，該校準電路在高頻信號的輸入停止的狀態下可變地設定所述第二電阻器的電阻值以使得所述差值電流被減小。

5.根據權利要求3所述的檢測器電路，其中，所述校準電路包括：檢測所述差值電流的符號的比較器，以及根據所述比較器的比較結果來執行可變設定的校準控制電路。

6.根據權利要求4所述的檢測器電路，其中，所述校準電路包括：檢測所述差值電流的符號的比較器，以及根據所述比較器的比較結果來執行可變設定的校準控制電路。

7.根據權利要求5所述的檢測器電路，其中，所述校準電路包括：校準電流經由第一開關提供到的校準電容、設在所述耦合節點與所述校準電容之間的第二開關、向所述耦合節點輸入電壓的反相器以及所述校準控制電路，所述校準控制電路在所述第一開關被導通并且所述校準電容被充電到所述反相器的閾值電壓時根據所述反相器的輸出執行可變設定，此后所述第一開關被關斷并且所述第二開關被導通，并且所述差值電流被提供到所述校準電容。

8.根據權利要求3所述的檢測器電路，其中，所述第一電流鏡電路、第二電流鏡電路和第三電流鏡電路各自具有柵極共同耦合的一對晶體管，并且所述第一、第二和第三電流鏡像比的可變設定通過對這些對晶體管的溝道寬度比的可變設定來執行。

9.根據權利要求2所述的檢測器電路，包括：

第一平滑電路，該第一平滑電路設在所述第一二極管的負極與所述第一電流鏡電路之間；以及

第二平滑電路，該第二平滑電路設在所述第二二極管的負極與所述第二電流鏡電路之間。

10.根據權利要求9所述的檢測器電路，其中

所述第一平滑電路包括耦合到所述第一二極管的負極的第一平滑電容器和設在所述第一二極管的負極與所述第一電流鏡電路之間的第三電阻器，并且所述第二平滑電路包括耦合到所述第二二極管的負極的第二平滑電容器和設在所述第二二極管的負極與所述第二電流鏡電路之間的第四電阻器。

11.根據權利要求1至10中任一項所述的檢測器電路，還包括輸出電路，該輸出電路輸出所述差值電流的大小。