[發明專利]電子產品老化載具及老化測試方法

有效

• 申請號: 201210077740.6
• 申請日: 2012-03-22
• 公開（公告）號: CN102854340A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 賓興
• 申請（專利權）人: 深圳市興禾自動化有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/00
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 郭燕

技術領域

本發明涉及電子產品的老化測試，具體涉及一種電子產品老化載具及老化測試方法。

背景技術

老化測試就是為了驗證終端產品的性能壽命而對產品進行的一種測試，通常需要設計一系列的可靠性實驗項目，最真實的模擬產品在實際使用中的場景，通過實驗的結果評估產品的各方面性能。現有技術中，對電子產品的老化測試的老化線主要有以下兩種：

1、純人工方式，請參考圖1，將待老化產品13放入到載具11內，把待老化產品13的輸出端子131與載具11內部的輸入端子14(例如USB接口)相連接，并將載具11內部的輸入端子14通過引線15匯集于載具11側面集線槽16，人工將載具11連同待老化產品13并放入老化柜內，手動將載具11與CPU12上的集線槽16對接后進行老化。

在這種老化線中，每個待檢產品都需要引出一根引線，最后將所有引線匯集到集線槽處，隨著待檢產品數量的增多，引線的數量也相應增多，載具內部引線就越容易相互纏繞，而且引線兩端與USB和集線槽通常采用間焊接固定，當焊接點過多時，不能保證連接可靠性。

2、自動方式，請參考圖2，載具21放置于檢測柜內，老化柜內為皮帶或鏈條傳送載具21移動，載具21移動過程中通過軌道27上的導電軌26(配合電刷)輸入電源，每個載具21內都設置CPU22，CPU22通過引線25與其輸入端子24連接，將待老化產品23的輸出端子231與CPU22的輸入端子24連接，以便CPU22控制待老化產品23的通斷電和記錄數據，當載具21送出老化柜后，再用設備讀取載具內CPU22數據，了解每個待老化產品23的老化數據等參數。

在這種老化線中，需要每組載具都分別配置一個CPU，待檢測產品與CPU之間也是采用引線連接，當待檢測產品數量較多時，引線數量隨之增加，容易相互纏繞，而且載具內部組件太多(CPU、引線、USB接口等)，當載具被(鏈條或皮帶)拖動時難免產生震動，內部組件松動、焊點松動、脫落、引線斷裂等不可靠因素增加。另一方面，在拖動走位過程中，載體底部電刷與老化柜內部導電軌連接通電，這種方式不能保證連接的可靠性和穩定性，而且這種方式需將載具取出檢測柜后，由專門設備讀取CPU數據才可獲得老化數據。

發明內容

本發明的目的是提供一種新型的電子產品老化載具以及老化檢測方法。

本發明提供一種電子產品老化載具，包括：

底板；

多個轉接口安裝位，用于安裝電路板轉接口，其位于底板的一側；

以及多個產品放置位，用于放置電子產品，其位于所述底板設置所述轉接口安裝位的一側，且一個所述產品放置位對應一個所述轉接口安裝位。

一種進一步地實施例中，還包括電路板轉接口，所述電路板轉接口安裝在所述轉接口安裝位上，其包括：

電路板，所述電路板上集成有用于與電子產品連接的輸入端子和用于與老化測試系統連接的輸出端子，所述輸入端子位置與所述產品放置位位置相適配，所述輸出端子為觸點或者探針；

軟膠套，其包裹住電路板金屬導電部分。

一種進一步地實施例中，所述軟膠套為工字形，所述電路板的輸出端子和輸入端子分別從工字形的兩端伸出。

一種進一步地實施例中，還包括多組導向件，所述導向件與所述產品放置位同在所述底板的一側，一組所述導向件對應一個所述產品放置位；所述導向件包括至少一根導向條，所述導向條的導向方向與所對應的電子產品放置位相適配。

一種進一步地實施例中，還包括限位槽，所述限位槽與所述產品放置位同在底板的一側，所述限位槽與對應的所述產品放置位重合，所述導向件的導向方向延伸至所述限位槽中；所述限位槽的形狀與所要放置的電子產品外形相匹配。

一種進一步地實施例中，所述限位槽由多根限位條圍合形成，其中的一條或者多條限位條同時也是導向條。

一種進一步地實施例中，所述轉接口安裝位成一列或多列分布，所述產品放置位對應也成一列或多列分布。

一種進一步地實施例中，還包括至少一根條狀靠板，所述靠板位于所述底板設有產品放置位的一側，且每根所述靠板上分布有多個所述轉接口安裝位；所述產品放置位沿所述靠板的側邊、與所述轉接口安裝位對應分布。

一種進一步地實施例中，所述轉接口安裝位包括開設在所述靠板上的凹槽和壓設在凹槽槽壁上的壓塊，所述凹槽的形狀與所要安裝的電路板轉接口外形相匹配。

本發明還提供了一種電子產品老化測試方法，包括以下步驟：

將待測電子產品放置于上述載具的產品放置位內；