[發明專利]一種基于邊界掃描機制的電路系統機內測試裝置

有效

• 申請號: 201210073870.2
• 申請日: 2012-03-20
• 公開（公告）號: CN102590733A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 胡政;楊定新;李岳;王南天;宋立軍
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科學技術大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/02
• 代理公司: 長沙新裕知識產權代理有限公司 43210
• 代理人: 劉熙

1.一種基于邊界掃描機制的電路系統機內測試裝置，其特征是包括分系統級BITE、電路板級BITE，元器件級BITE；所述分系統級BITE通過系統級高速數據總線與外部數據管理系統互連，往下一級通過系統級測試和維修總線與所述電路板級BITE及其它分系統中其它被測電路板互連，所述電路板級BITE往下一級通過邊界掃描測試總線與元器件級BITE及電路板中其它元器件互連。

2.根據權利要求1所述的基于邊界掃描機制的電路系統機內測試裝置，其特征是所述分系統級BITE由測試生成、測試矢量庫、故障診斷、通訊接口1、通訊接口2單元組成；所述測試生成單元的輸出連接到測試矢量庫單元和故障診斷單元；測試矢量庫的輸出與通訊接口1和故障診斷單元連接；通訊接口2與外部數據管理系統連接；通訊接口1與電路板級BITE連接。

3.根據權利要求1或2所述的基于邊界掃描機制的電路系統機內測試裝置，其特征是所述電路板級BITE由測試控制、響應分析、數據采集、數據處理、板上記錄與報警、通訊接口單元組成；其中測試控制單元是電路板級BITE的核心，其輸入連接到通訊接口單元，通訊接口單元通過系統級測試和維修總線連接到分系統級BITE；測試控制單元包括邊界掃描測試控制和傳統電路BIT啟動控制兩個模塊，其中，邊界掃描測試控制模塊的輸出通過邊界掃描總線連接到邊界掃描器件以及外加邊界掃描功能器件；邊界掃描器件以及外加邊界掃描功能器件的響應輸出連接到響應分析單元；邊界掃描測試控制模塊的輸出也連接到響應分析單元；傳統電路BIT啟動控制模塊的輸出連接到各種傳統電路測試單元；傳統電路測試各單元的輸出連接到數據采集單元；數據采集單元和響應分析單元的輸出連接到數據處理單元；數據處理單元輸出連接到通訊接口和板上記錄與報警單元。