[發明專利]基于氧化鉭絕緣層的薄膜晶體管及其制備方法無效
| 申請號: | 201210073839.9 | 申請日: | 2012-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN102623510A | 公開(公告)日: | 2012-08-01 |
| 發明(設計)人: | 蘭林鋒;彭俊彪;王磊 | 申請(專利權)人: | 華南理工大學;廣州新視界光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;H01L29/22;H01L21/34;H01L21/363 |
| 代理公司: | 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245 | 代理人: | 宮愛鵬 |
| 地址: | 510640 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 氧化 絕緣 薄膜晶體管 及其 制備 方法 | ||
1.基于氧化鉭絕緣層的薄膜晶體管的制備方法,其特征在于,包含如下步驟:
(1)柵極基片的制備
在玻璃基板上通過濺射的方法制備鉭或鉭合金薄膜,該薄膜的厚度為100nm~600nm,通過掩模或光刻的方法圖形化,得到柵極;
(2)陽極氧化絕緣層的制備
將所制備的柵極基片放入電解質溶液中通電進行陽極氧化處理,在柵極表面形成一層氧化鉭薄膜,其厚度為100nm~300nm,即為陽極氧化絕緣層;
(3)溝道層的制備
在陽極氧化絕緣層上面通過濺射的方法制備溝道層,該溝道層的厚度為20nm~100nm,通過掩模或光刻的方法圖形化,得到溝道層;
(4)漏極和源極的制備
在溝道層上面通過濺射的方法制備一層厚度為100nm~500nm的導電薄膜,通過掩模、光刻或者剝起的方法圖形化,同時得到漏極和源極。
2.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(2)所述陽極氧化處理的步驟如下:將柵極基片放入電解質溶液的一端接電源正極,電源負極接石墨或金屬放入電解質溶液的另外一端,先在陽極和陰極之間加恒定的電流為0.1~1mA/cm2,陽極和陰極之間的電壓將隨時間線性升高,當電壓達到設定值80V~150V時恒定這個電壓,直至陽極和陰極之間的電流小于等于0.05mA/cm2時,在柵極表面形成一層氧化鉭薄膜,即為陽極氧化絕緣層。
3.根據權利要求1或2所述的制備方法,其特征在于,所述電解質溶液為檸檬酸、硫酸或者為酒石酸銨和乙二醇的混合液。
4.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(1)和(4)所述濺射的本底真空度小于等于1×10-3Pa,氬氣氣壓為0.2~2Pa,功率為0.3~10W/cm2。
5.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(3)所述濺射的本底真空度小于等于1×10-3Pa,氬氣偏壓為0.2~2Pa,氧氣偏壓為0~0.3Pa,功率為0.3~10W/cm2。
6.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(3)所述溝道層的材料為氧化物半導體材料,所述氧化物半導體材料為在氧化鋅中摻入銦、鎵、鋁、釹、鉭、鎳和錫元素中的一種或多種。
7.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟(4)所述的源極和漏極材料為鋁、鉬、鉻、銅、鎳、鉭、金、銀、鉑、鈦或氧化銦錫。
8.根據權利要求1~7任意一項方法制備的薄膜晶體管,其特征在于,該晶體管包括基板、柵極、陽極氧化絕緣層、溝道層、源極和漏極;所述柵極位于基板之上,陽極氧化絕緣層包覆于柵極之上,溝道層位于陽極氧化絕緣層之上,源極和漏極分別覆蓋在溝道層的兩端并且相互間隔。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華南理工大學;廣州新視界光電科技有限公司,未經華南理工大學;廣州新視界光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210073839.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類





