[發(fā)明專利]一種測量光學(xué)器件相位延遲角度的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210073614.3 | 申請日： | 2012-03-19 |
| 公開（公告）號： | CN102620907A | 公開（公告）日： | 2012-08-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王建宇;吳金才;何志平;賈建軍;舒嶸;楊海馬;袁立銀 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 測量 光學(xué) 器件 相位 延遲 角度 方法 | ||
1.一種測量光學(xué)器件相位延遲角度的方法，檢測光源(1)經(jīng)過起偏偏振片(2)產(chǎn)生某一角度α的線偏光，該線偏光通過方位角處于0度的1/4波片(3)，轉(zhuǎn)化成長軸處于水平或豎直方向的橢圓偏振光，該橢圓偏振光經(jīng)過待測光學(xué)器件(4)，再經(jīng)過偏振光方位角探測組件(5)檢測，其中偏振探測組件(5)由檢偏偏振片(51)、帶動檢偏片旋轉(zhuǎn)且可以記錄角度的電機(jī)(52)、光學(xué)探測器(53)組成，其特征在于：光學(xué)器件相位延遲角度通過以下數(shù)據(jù)處理步驟得到：
1)檢測光源(1)經(jīng)過起偏偏振片(2)后產(chǎn)生某一角度α的線偏光，該角度處于非±45°，此時(shí)偏振光的瓊斯矢量可以表示為
2)該線偏振光經(jīng)過方位角處于0°或90°的1/4波片(3)時(shí)，取方位角為0°時(shí)，1/4波片的傳輸矩陣為
3)待測光學(xué)器件(4)的相對相位延遲角度取為δ，此角度為待測量量，并取該相位延遲角度的范圍為同時(shí)預(yù)先測量該器件對S、P光的反射率或透射率，其效率表示為則待測光學(xué)器件的傳輸矩陣為
4)偏振光方位角探測組件(5)再對步驟3)中的偏振狀態(tài)進(jìn)行檢測，通過檢偏偏振片(51)來測量該偏振光的方位角、通過旋轉(zhuǎn)電機(jī)(52)來記錄方位角的角度θ，方位角θ與待測光學(xué)器件(4)的相位延遲角δ滿足關(guān)系：
通過預(yù)先獲知S、P光的通光效率及線偏光的方位角度α，則出射光的方位角度θ與待測光學(xué)器件(4)的相位延遲角δ滿足一一對應(yīng)的關(guān)系：
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