[發明專利]微波介質涂層電控檢測裝置及其檢測方法有效
| 申請號: | 201210073256.6 | 申請日: | 2012-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN102590637A | 公開(公告)日: | 2012-07-18 |
| 發明(設計)人: | 周建華;李彥龍;霍麗霞;游佰強;李海雄;陳婧薇 | 申請(專利權)人: | 廈門大學 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 廈門南強之路專利事務所 35200 | 代理人: | 馬應森 |
| 地址: | 361005 *** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微波 介質 涂層 檢測 裝置 及其 方法 | ||
1.微波介質涂層電控檢測裝置,其特征在于設有矩形波導、平行耦合微帶電極、直流穩壓電源、矢量網絡分析儀、計算機和短路板;所述矩形波導的前端與矢量網絡分析儀的端口連接,平行耦合微帶電極設在矩形波導的中間,矩形波導的后端連接短路板,直流穩壓電源的輸出端與平行耦合微帶電極連接,矢量網絡分析儀通過電纜與計算機的輸入端口連接。
2.如權利要求1所述的微波介質涂層電控檢測裝置,其特征在于所述矩形波導的工作頻段為45MHz~40GHz;所述矢量網絡分析儀采用頻率覆蓋范圍為45MHz~40GHz的矢量網絡分析儀。
3.如權利要求1所述的微波介質涂層電控檢測裝置,其特征在于所述矩形波導的前端通過同軸電纜波導轉換接頭與矢量網絡分析儀的端口連接。
4.如權利要求1所述的微波介質涂層電控檢測裝置,其特征在于所述矩形波導采用標配矩形波導,作為樣品測量夾具。
5.微波介質涂層的電控檢測方法,其特征在于采用如權利要求1~4中的任一所述微波介質涂層電控檢測裝置,所述方法包括以下步驟:
1)采用標配的開路、短路、負載校準件完成矢量網絡分析儀的校準工作,再完成同軸波導轉換接頭連接標準波導后的端面校準;
2)將所設計的U型平行耦合微帶電極加載在待測樣品上,然后放入矩形波導端面中由短路板夾持進行測試,兩平行耦合微帶電極固定相連,實際尺寸略長于設計的尺寸,保證被測試樣在檢測區獲取均勻的直流偏置場;
3)在平行耦合微帶電極之間加載直流偏置電壓0V、1V、2V……,觀察散射參數S11的變化并分別記錄S11(0)、S11(1)、S11(2)……的實部和虛部;
4)分別測試已知空氣層和聚四氟乙烯(PTFE)涂層,根據測得的散射參數,利用matlab語言編寫的程序計算出介電常數數值,并通過將已知涂層電磁參數與測試結果進行對比,確定本測試系統的可靠性、測試誤差和測試精度。
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