[發明專利]模擬電路測試裝置

有效

• 申請號: 201210073244.3
• 申請日: 2012-03-19
• 公開（公告）號: CN102628923A
• 公開（公告）日: 2012-08-08
• 發明（設計）人: 隋海建;宋紅東
• 申請（專利權）人: 硅谷數模半導體(北京)有限公司;硅谷數模國際有限公司
• 主分類號: G01R31/316
• 分類號: G01R31/316
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;余剛

1.一種模擬電路測試裝置，其特征在于，包括：

產生電路，用于提供測試向量；

第一獲取電路，連接于被測電路的輸入端和所述產生電路之間，用于獲取所述測試向量以及將所述測試向量施加至所述被測電路；

第二獲取電路，連接于所述被測電路的輸出端，用于獲取所述被測電路的輸出信息；以及

分析電路，與所述第二獲取電路相連接，用于根據所述被測電路的輸出信息判斷所述被測電路的功能正確性。

2.根據權利要求1所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述產生電路包括：

特征產生器(12)，用于產生特征序列；以及

模擬電路測試向量產生器(13)，連接于所述特征產生器(12)，用于根據所述特征序列得到所述測試向量。

3.根據權利要求2所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述產生電路還包括：

隨機序列產生器(11)，連接于所述模擬電路測試向量產生器(13)，用于產生隨機測試向量序列，

其中，所述模擬電路測試向量產生器(13)用于將所述特征序列的信息加入所述隨機測試向量序列，以產生含有特征信息的測試向量。

4.根據權利要求1所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述第一獲取電路為模擬電路向量獲取電路(21)，所述模擬電路向量獲取電路(21)用于從數字模擬接口獲取所述測試向量。

5.根據權利要求1所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述第二獲取電路為解串行化電路，其中，所述解串行化電路用于獲取所述被測電路的輸出信息，以及將所述輸出信息中的串行數據轉換為并行數據。

6.根據權利要求1所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述第二獲取電路為模數轉換電路，其中，所述模數轉換電路用于獲取所述被測電路的輸出信息，以及將所述輸出信息中的模擬信號轉換為數字信號。

7.根據權利要求5或6所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，包括數字電路(10)，其中，所述數字電路(10)包括所述產生電路和所述分析電路。

8.根據權利要求7所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，還包括：

測試向量壓縮電路(24)，用于抽取解串行化電路或模數轉換電路(23)恢復的數據流中的特征信息，并加以壓縮，回傳給所述數字電路(10)。

9.根據權利要求8所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述分析電路為測試向量特征分析電路(15)，所述測試向量特征分析電路(15)用于分析經過所述測試向量壓縮電路(24)壓縮過的特征信息，并檢測所述特征信息的正確性。

10.根據權利要求1所述的模擬電路測試裝置，其特征在于，所述被測電路為串行器轉換電路或數模轉換電路。