[發明專利]一種用于低溫光學系統的像方掃描裝置及控制方法無效
| 申請號: | 201210072965.2 | 申請日: | 2012-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN102608759A | 公開(公告)日: | 2012-07-25 |
| 發明(設計)人: | 張旋;潘鳴;裴云天;蔣范明;趙高飛;李曉平 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | G02B26/10 | 分類號: | G02B26/10 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 低溫 光學系統 掃描 裝置 控制 方法 | ||
1.一種用于低溫光學系統的像方掃描裝置,包括掃描機構外框(1)、墊塊(2)、壓電雙晶片驅動器(3)、連桿機構(4)、固定軸掃描鏡(5)、軸承(6)以及掃描驅動控制單元(7),其特征在于,用于掃描鏡驅動的壓電雙晶片驅動器(3)一端固定在掃描機構外框(1)上,中間用墊塊(2)間隔,構成懸臂梁結構;固定軸掃描鏡(5)軸端通過軸承(6)與掃描機構外框(1)連接;壓電雙晶片驅動器(3)的輸出端通過連桿機構(4)與固定軸掃描鏡(5)相連;掃描驅動控制單元(7)驅動掃描機構進行掃描工作。
所述的掃描驅動控制單元(7),包括掃描波形控制模塊(8)和高壓驅動模塊(9),掃描波形控制模塊(8)產生任意驅動波形,高壓驅動模塊(9)將掃描驅動波形進行高壓功率放大。
2.根據權利要求1所述的一種用于低溫光學系統的像方掃描裝置,其特征在于,所述的連桿機構(4)、墊塊(2)和掃描機構外框(1)采用殷鋼材料。
3.根據權利要求1所述的一種用于低溫光學系統的像方掃描裝置,其特征在于,所述的固定軸掃描鏡(5)采用微晶玻璃。
4.根據權利要求1的一種用于低溫光學系統的像方掃描裝置,其特征在于,所述的軸承(6)采用自潤滑的陶瓷軸承。
5.一種如權利要求1所述裝置的控制方法,其特征在于包括以下步驟:
1)掃描波形數據存儲在掃描驅動控制單元(7)的掃描波形控制模塊(8)中,掃描波形控制模塊(8)控制輸出電壓波形的幅度和頻率,讀取波形數據并輸出控制電壓波形;
2)掃描系統驅動控制單元(7)的高壓驅動模塊(9)對掃描波形控制模塊(8)輸出的控制電壓波形進行高壓和功率的放大,達到壓電雙晶片驅動器(3)的驅動要求;
3)在高壓驅動波形的驅動下,壓電雙晶片驅動器(3)發生彎曲變形,輸出端面位置發生變化,并通過連桿機構(4)傳遞到固定軸掃描鏡(5)的端面上,固定軸掃描鏡(5)隨之開始轉動,進入掃描狀態。
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