[發(fā)明專利]一種梁膜四島結(jié)構(gòu)微壓高過載傳感器芯片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210071278.9 | 申請日: | 2012-03-16 |
| 公開(公告)號: | CN102636298A | 公開(公告)日: | 2012-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙玉龍;于忠亮;孟夏薇;劉巖;張學(xué)鋒;田邊 | 申請(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號: | G01L1/18 | 分類號: | G01L1/18 |
| 代理公司: | 西安智大知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61215 | 代理人: | 賀建斌 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 梁膜四島 結(jié)構(gòu) 微壓高 過載 傳感器 芯片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及MEMS壓阻式絕對壓力傳感器技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種梁膜四島結(jié)構(gòu)微壓高過載傳感器芯片。
背景技術(shù)
隨著微機(jī)械電子系統(tǒng)技術(shù)的發(fā)展,MEMS微壓傳感器已被廣泛應(yīng)用于風(fēng)洞測試,生物醫(yī)電及石油化工等領(lǐng)域,尤其在航天,這種對傳感器體積、重量有嚴(yán)格要求的領(lǐng)域,MEMS傳感器無疑是十分理想的選擇。
隨著航天技術(shù)的發(fā)展,我國目前的MEMS微壓傳感器主要還停留在KPa級上,并不能滿足航天領(lǐng)域?qū)a級微壓測量的需求,也不能適應(yīng)航天領(lǐng)域的工作環(huán)境,不能滿足航天領(lǐng)域?qū)ι罡呖瘴壕_測量技術(shù)的需求。由于飛行器飛行到深高空時(shí),環(huán)境氣壓不足標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的萬分之一,因而傳感器需要承受地面與深高空之間相當(dāng)于數(shù)百倍滿量程的高過載,并能高精度地測量深高空的微壓。同時(shí),在地面與深高空近100℃的溫差下,傳感器仍需保持高精度的測量。因此,如何解決高靈敏度與高過載,高靈敏度與高線性度之間的矛盾,同時(shí),抑制低溫對傳感器測量精度的影響,是保障傳感器可靠、精確地測量深高空微壓,而亟待突破的關(guān)鍵技術(shù)難點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本發(fā)明的目的在于提供一種梁膜四島結(jié)構(gòu)微壓高過載傳感器芯片,能夠?qū)a級微壓進(jìn)行測量,具有高線性度、高精度,同時(shí)能夠承受相當(dāng)于滿量程500倍的高過載,能夠滿足航天領(lǐng)域?qū)ι罡呖瘴壕_測量的需求。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
一種梁膜四島結(jié)構(gòu)微壓高過載傳感器芯片,包括硅基底1,硅基底1上加工有四個(gè)質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4和四根單梁3-1、3-2、3-3、3-4及十字梁3-5,質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4通過四根單梁3-1、3-2、3-3、3-4與硅基底1連接,質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4之間通過十字梁3-5連接,將硅基底1、質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4、四根單梁3-1、3-2、3-3、3-4及十字梁3-5圍成的空間加工成10~30μm薄膜2,硅基底1的背面與Pyrex7740玻璃5鍵合,將質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4的背面減薄,使質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4與Pyrex7740玻璃5之間在真空環(huán)境下留有5~10μm的間隙,同時(shí)將Pyrex7740玻璃5上的防吸附電極9-1、9-2、9-3、9-4插入鍵合區(qū)域10,將薄膜2、質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4和Pyrex7740玻璃5之間形成的腔體抽真空,在硅基底1的正面,四個(gè)壓敏電阻條6-1、6-2、6-3、6-4按照四根單梁3-1、3-2、3-3、3-4上的應(yīng)力分布規(guī)律均布置在靠近其根部處,且沿著壓阻系數(shù)最大的兩晶向,四個(gè)壓敏電阻條6-1、6-2、6-3、6-4通過硅基底1上的金屬引線8相互連接組成半開環(huán)惠斯通電橋,電橋的輸出端與硅基底1上的焊盤7相連。
所述的四根單梁3-1、3-2、3-3、3-4及十字梁3-5厚度為10~40μm。
所述的四個(gè)壓敏電阻條6-1、6-2、6-3、6-4均由四折相同的電阻條組成,并且沿相互垂直的兩晶向。
所述的焊盤7采用Ti-Pt-Au多層引線技術(shù)。
所述的金屬引線8采用Ti-Pt-Au多層引線技術(shù)。
所述的防吸附電極9-1、9-2、9-3、9-4采用Cr材料,防吸附電極9-1、9-2、9-3、9-4為梳齒狀,與質(zhì)量塊4-1、4-2、4-3、4-4的接觸面積小。
本發(fā)明采用梁膜四島結(jié)構(gòu)作為MEMS微壓傳感器的芯體結(jié)構(gòu),可以承受由地面氣壓帶來的相當(dāng)于500倍滿量程的高過載,四根單梁3-1、3-2、3-3、3-4上壓敏電阻條6-1、6-2、6-3、6-4的分布位置是根據(jù)有限元計(jì)算結(jié)果確定的,可以提高惠斯通電橋的輸出電壓,從而進(jìn)一步提高傳感器的靈敏度。硅基底1上的焊盤7與金屬引線8采用了Ti-Pt-Au多層引線技術(shù),即將Ti置于底層與壓敏電阻條6-1、6-2、6-3、6-4連接,以降低接觸電阻,Pt置于中間阻擋層,以提高引線耐腐蝕性,Au置于上邊引線鍵合層,以利于引線鍵合。此技術(shù)可以保證在航天等惡劣環(huán)境下,引線鍵合連接的可靠性。該傳感器芯片的結(jié)構(gòu)合理,能夠抗高過載,同時(shí)又具備高可靠性、高精度、高線性度、便于加工、成本低等特點(diǎn),有利于實(shí)現(xiàn)批量化生產(chǎn)。
附圖說明
圖1為本發(fā)明軸側(cè)示意圖。
圖2為本發(fā)明正面示意圖。
圖3為本發(fā)明硅基底1的背腔示意圖。
圖4為圖2中A-A截面的剖視示意圖。
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