[發明專利]一種錐環幾何參數綜合檢測裝置

無效

• 申請號: 201210066878.6
• 申請日: 2012-03-14
• 公開（公告）號: CN102607413A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發明（設計）人: 王朝暉;劉丙新;鄭騰飛;張群明;蔣莊德;李增良
• 申請（專利權）人: 西安交通大學
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/08;G01B11/26
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

技術領域

本發明屬于測量應用技術領域，涉及一種檢測裝置，尤其是一種錐環幾何參數綜合檢測裝置。

背景技術

目前，生產現場通常的錐環(內錐)零件各項幾何參數精度檢測主要使用各種測量工具分別進行測量，一次只能檢測一項參數指標，如錐環高度主要用游標卡尺測量，錐環錐度主要利用塞規進行測量，而錐環的端面直徑(包括大、小端直徑)有時只是定性地檢測一個，有時甚至沒法具體檢測(由于工藝的要求，錐環兩端有倒角，因此無法直接測出錐體兩端直徑)。同時，采用塞規檢測錐環錐度，也只是一種定性測量，精度不高，效率低下。

總之，現有的同步器錐環的幾何參數的綜合檢測效率低下，精度整體不高，同時對操作人員的技術水平要求較高，不能很好地滿足實際的生產現場檢測的需要。

發明內容

本發明的目的在于克服上述現有技術的缺點，提供一種錐環幾何參數綜合檢測裝置，該裝置一次操作即可完成對被測件的錐度、錐高、錐體大端直徑或小端直徑等多個參數的測量，有效提高了測量效率。

本發明的目的是通過以下技術方案來解決的：

這種錐環幾何參數綜合檢測裝置，包括基座，在基座上端工作面垂直設置有一芯軸，所述芯軸由下至上分別通過直線軸承安裝有圓盤狀的大測頭和小測頭，在大測頭和小測頭之間采用第一彈簧連接，大測頭和芯軸之間采用第二彈簧連接；在基座上于芯軸的旁側還設置有CCD裝置；所述芯軸為空心軸，在芯軸內軸向設置有光柵尺，在大測頭和小測頭上分別設置有與所述光柵尺配合的測頭。

進一步的，上述CCD裝置為高分辨率CCD攝像機，所述CCD攝像機鏡頭朝向安裝于芯軸上的被測工件；CCD攝像機通過數據線連接至計算機，所述計算機上安裝有圖像處理軟件模塊。

在上述基座上端的工作面上，于芯軸四周布置有三個成120°角分布的定位銷，三個定位銷的定位基準面的平面度精度為6-7級。

上述定位銷上裝有接觸檢測傳感器。

上述第一彈簧和第二彈簧剛度不同。

本發明與現有技術相比，具有以下有益效果：

(1)測量時，錐度測量裝置固定在工作臺上，而定位銷就相當于限位裝置。比起工件固定在工作臺上測量裝置運動的方法，效率要高的多，而且操作起來也更容易，簡便。

(2)兩測頭之間采用彈簧連接，在彈簧力的作用下，被測件與測頭自動緊密接觸，通過設計不同剛度的彈簧，還可以控制它們之間的接觸力，比起手動調節它們之間的接觸來說，效率明顯提高，誤差減小。

(3)測頭通過直線軸承與芯軸間形成滑移副，其中，直線軸承為標準件，由專業化廠家生產，從而有高的配合精度，低的成本，可以保證測頭與被測件之間具有準確的測量位置。比起測量時手動找正來說，效率和精度都要高。而且這也符合標準化的設計準則。

(4)測量過程中測頭的位置由位移傳感器直接讀出，快速、高效、精確。

(5)定位銷上裝有接觸檢測傳感器，根據各個傳感器的讀數，由系統自動判定被測件在測量中的位置，當系統找到正確的測量位置后，自動記錄測量數據，并計算出測量結果。

附圖說明

圖1為本發明的結構剖面示意圖。

其中：1為基座；2為定位銷；3為大測頭；4為小測頭；5為芯軸；6為第一彈簧；7為第二彈簧；8為被測件；9為CCD裝置；10為光柵尺；11為光柵尺測頭；12為定位基準面。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明做進一步詳細描述：

參見圖1，本發明的錐環幾何參數綜合檢測裝置包括基座1，在基座1上端工作面垂直設置有一芯軸5，芯軸5由下至上分別通過直線軸承安裝有圓盤狀的大測頭3和小測頭4，大、小測頭3、4通過直線軸承與芯軸5之間形成滑移副，測頭與軸承間固定連接，軸承與芯軸間采用g6/H7的間隙配合，使它們只可相對滑動，不可相對轉動。在大測頭3和小測頭4之間采用第一彈簧6連接，大測頭3和芯軸5之間采用第二彈簧7連接；在基座1上于芯軸5的旁側還設置有CCD裝置9所述CCD裝置9為高分辨率CCD攝像機，CCD攝像機鏡頭朝向安裝于芯軸5上的被測工件，CCD裝置9的高度為一定值；CCD攝像機通過數據線連接至計算機，所述計算機上設計有圖像數據處理相關軟件模塊。