[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體處理設(shè)備及其使用方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210066329.9 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102903659A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱慧瓏;尹海洲;駱志炯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 聚日(蘇州)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/687 | 分類號(hào): | H01L21/687;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京漢昊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11370 | 代理人: | 朱海波 |
| 地址: | 215123 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)獨(dú)墅*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 處理 設(shè)備 及其 使用方法 | ||
1.一種晶圓蓋,其中:
所述晶圓蓋(100)包括底面、以及與該底面相連接且環(huán)繞該底面的側(cè)壁,該側(cè)壁和底面之間的空間形成凹槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓蓋,其中:
所述晶圓蓋(100)的側(cè)壁與底面形成兩個(gè)凹槽,該兩個(gè)凹槽分別位于該底面的兩側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶圓蓋,其中,所述凹槽的形狀為圓形。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶圓蓋,其中,所述晶圓蓋(100)直徑的范圍為100mm-450mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶圓蓋,其中,所述晶圓蓋(100)的厚度范圍為0.1mm-5mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶圓蓋,其中:
所述晶圓蓋(100)的材料包括氧化硅、單晶Si、單晶Ge、單晶SiGe、多晶Si、多晶Ge、多晶SiGe、非晶Si、非晶Ge、非晶SiGe、III-V或II-VI族化合物半導(dǎo)體或其組合;或者
所述晶圓蓋(100)的材料包括不銹鋼、銅、以及表面鍍有氧化硅、氮化硅的不銹鋼和銅中的一種或其任意組合。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的晶圓蓋,其中,所述側(cè)壁的上表面為粗糙結(jié)構(gòu)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1、2或7所述的晶圓蓋,其中,在所述側(cè)壁上存在貫通該側(cè)壁、且與所述凹槽相連通的孔(104)。
9.一種處理容器,其中:
在所述處理容器腔內(nèi)(201)的底部具有一個(gè)或者多個(gè)第一溝槽(202),該一個(gè)或者多個(gè)第一溝槽(202)均具兩個(gè)側(cè)壁,其特征在于:
在所述兩個(gè)側(cè)壁中,至少有一個(gè)側(cè)壁呈傾斜狀態(tài)。?
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的處理容器,其中,與所述第一溝槽(202)延伸方向相垂直的截面為倒置的梯形或三角形。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的處理容器,其中,在所述處理容器腔內(nèi)(201)的頂部設(shè)置有一個(gè)或者多個(gè)隔板(203)。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的處理容器,其中,在每個(gè)所述第一溝槽(202)具有一個(gè)底部,并且在所述溝槽的底部設(shè)置有一個(gè)第一矩形溝槽(204)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的處理容器,其中,所述第一矩形溝槽(204)的寬度與晶片蓋的厚度一致。
14.根據(jù)權(quán)利要求9或12所述的處理容器,其中:
所述第一溝槽(202)或所述第一矩形溝槽(204)具有一個(gè)底部;
所述處理容器(200)的底部設(shè)置有進(jìn)氣孔(205),該進(jìn)氣孔(205)與所述第一溝槽(202)或所述第一矩形溝槽(204)的底部相連通。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的處理容器,其中,所述處理容器中放置有權(quán)利要求8中所述的晶圓蓋,所述晶圓蓋側(cè)壁上的孔(104)與所述處理容器(200)的底部的進(jìn)氣孔(205)相連通。
16.一種配重,該配重用于夾持晶圓和晶圓蓋,其中:
所述配重(300)具有至少一個(gè)第二溝槽(301),該第二溝槽(301)具兩個(gè)側(cè)壁,在所述兩個(gè)側(cè)壁中,至少有一個(gè)側(cè)壁呈傾斜狀態(tài)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的配重,其中,與所述第二溝槽(301)延伸方向相垂直的截面為倒置的梯形或三角形。
18.根據(jù)權(quán)利要求16或17所述的配重,其中,在每個(gè)所述第二溝槽(301)具有一個(gè)底部,并且在所述第二溝槽(301)的底部設(shè)置有一個(gè)第二矩形溝槽(302)。
19.根據(jù)權(quán)利要求16或17所述的配重,其中,所述配重(300)的材料為石英。
20.一種半導(dǎo)體處理設(shè)備,該半導(dǎo)體處理設(shè)備包括:
權(quán)利要求1-8中的任何一項(xiàng)所述的晶圓蓋(100);
權(quán)利要求9-15中的任何一項(xiàng)所述的處理容器(200);以及?
權(quán)利要求16-19中的任何一項(xiàng)所述的配重(300)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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