[發(fā)明專利]發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu)及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210065483.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102544283A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧朝勇;李緒誠(chéng);王新;張安邦;楊利忠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 貴州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L33/12 | 分類號(hào): | H01L33/12;H01L33/36;H01L33/00 |
| 代理公司: | 貴陽(yáng)中新專利商標(biāo)事務(wù)所 52100 | 代理人: | 李亮;程新敏 |
| 地址: | 550025 貴州省貴*** | 國(guó)省代碼: | 貴州;52 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光二極管 陣列 芯片 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
1.一種發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu),包括襯底(1),其特征在于:在襯底(1)上設(shè)有緩沖層(2),在緩沖層(2)的頂面設(shè)有n型層(4),在緩沖層(2)與n型層(4)之間設(shè)有線狀平行排列的n型層引線(3),在n型層(4)上設(shè)有與n型層引線(3)位置對(duì)應(yīng)的凸起,該凸起向兩側(cè)延伸;在n型層(4)的頂面設(shè)有RGB發(fā)光層,在RGB發(fā)光層、n型層(4)及緩沖層(2)之間設(shè)有與n型層引線(3)對(duì)應(yīng)的隔離層Ⅰ(8),每個(gè)隔離層Ⅰ(8)均與對(duì)應(yīng)的n型層引線(3)接觸;在RGB發(fā)光層的頂面上設(shè)有p型層(9),在p型層(9)的頂面上設(shè)有透明電機(jī)層(10),在透明電機(jī)層(10)的頂面上設(shè)有p型層引線(11),在p型層(9)與透明電機(jī)層(10)之間設(shè)有與p型層引線(11)位置對(duì)應(yīng)的隔離層Ⅱ(12),隔離層Ⅱ(12)與p型層引線(11)接觸,在隔離層Ⅱ(12)的頂面設(shè)有覆蓋了透明電極層(10),但是露出了p型層引線(11)的鈍化保護(hù)層(13)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:襯底(1)的材料為藍(lán)寶石單晶襯底或SiC單晶。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的n型層(4)中摻入Si,p型層(9)中摻入Mg或Zn。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:所述的n型層引線(3)和p型層引線(11)的材料為Mo、Au、Cu、Ag、Ni或Al中的一種或幾種的搭配與組合,或者它們的合金,或者金屬與合金的搭配與組合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:隔離層(8)、(12)和鈍化層(13)采用SiOx、SiNx或SiOxNy絕緣材料制作;透明電極層(10)為原位生長(zhǎng)的ITO或IZO。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管陣列芯片結(jié)構(gòu),其特征在于:RGB發(fā)光層包括紅光區(qū)(5)、綠光區(qū)(6)及藍(lán)光區(qū)(7),紅光區(qū)(5)、綠光區(qū)(6)及藍(lán)光區(qū)(7)呈列條狀交替分布,且每一條發(fā)光區(qū)都對(duì)應(yīng)的向下覆蓋一條n型層引線(3)。
7.一種發(fā)光二極管陣列芯片的制造方法,其特征在于:
步驟一,在襯底(1)的頂面采用MOCVD法沉積緩沖層(2),并在緩沖層(2)的頂面采用磁控濺射法沉積n型層引線層;
步驟二、在步驟一的基礎(chǔ)上對(duì)n型層引線層進(jìn)行光刻和刻蝕,刻蝕深度至緩沖層(2)表面,形成列條狀平行排列的n型層引線(3);
步驟三、在步驟二的基礎(chǔ)在緩沖層(2)的頂面采用MOCVD法沉積n型層(4);
步驟四、在步驟三的基礎(chǔ)上在n型層(4)的頂面采用MOCVD法沉積出RGB發(fā)光層;
步驟五、在步驟四的基礎(chǔ)上從頂部進(jìn)行光刻和刻蝕,刻蝕深度超過(guò)n型層(4),但不得刻穿緩沖層(2),形成行條狀的n型層和RGB發(fā)光層的隔離層溝道,再采用PECVD法沉積絕緣材料,使該隔離層溝道內(nèi)形成行條狀的n型層(4)和RGB發(fā)光層的隔離層Ⅰ(8);
步驟六、在步驟五的基礎(chǔ)上采用MOCVD法在RGB發(fā)光層的頂面沉積出p型層(9);然后采用磁控濺射法在p型層(9)的頂面沉積出透明電極層(10);
步驟七、在步驟六的基礎(chǔ)上采用磁控濺射法在透明電極層(10)的頂面沉積出p型層引線層,并對(duì)p型層引線層進(jìn)行光刻和刻蝕,使其形成條狀平行排列的p型層引線(11);
步驟八、在步驟七的基礎(chǔ)上從頂部進(jìn)行光刻和刻蝕,刻蝕深度至藍(lán)光區(qū)(7)表面,形成行條狀的p型層的隔離層溝道,再采用PECVD法沉積絕緣材料,使p型層的隔離層溝道內(nèi)形成行條狀的隔離層Ⅱ(12),隔離層Ⅱ(12)與p型層引線(11)接觸;
步驟九、在步驟八的基礎(chǔ)上采用PECVD法在透明電極層(10)的頂面沉積鈍化保護(hù)層(13);
步驟十、在步驟九的基礎(chǔ)上對(duì)鈍化保護(hù)層(13)進(jìn)行光刻和刻蝕,露出n型層引線(3)和p型層引線(11)。
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