[發明專利]表面花紋的檢測方法

有效

• 申請號: 201210065302.8
• 申請日: 2012-03-09
• 公開（公告）號: CN103308530A
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發明（設計）人: 鄭文瑋;薛名凱;羅文期
• 申請（專利權）人: 致茂電子(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;常大軍

技術領域

本發明涉及一種光學檢測方法，且特別涉及一種表面花紋的檢測方法。

背景技術

在大量工業產品的生產上，如何追求更高的產品品質以及提高所生產產品的均一性，一直是人們所重視的重點，因此除了對產品的生產程序進行改進，更須對所生產產品的品質進行檢測，以滿足客戶對于產品品質的要求，而其中，產品外觀是否完好無瑕疵，更是在產品生產時，最為直觀的檢測項目。

然而在許多生產領域上，受限于其材料本質的限制，在制作完成后，其表面容易形成各式各樣的紋路或斑點圖案，雖然花紋多半對于產品性能影響不大，但就其外觀來看，其不規則的表面花紋無法符合大多數人對于美感的要求，造成其產品價值下降，而客戶也多將此類表面花色過于斑駁不一的產品予以退貨，因此若是此類產品未能在出貨前被檢測出來，將造成出貨成本上的損失。

舉例而言，在目前主流的硅晶太陽能電池工藝中，由于硅晶板的生長特性，其晶格控制不易而難以控制其表面花色，容易造成太陽能電池表面花色不一，雖然表面花色不均勻不影響其光電性能，不妨礙一般發電運用，但若要將太陽能電池應用于建筑領域，其表面花色的均勻性便極為重要，生產者必需于品管過程中檢出表面花紋過花的太陽能電池。

然而目前在產品花紋檢測中，多依賴人工目測的方法，以檢出其表面花色較不均勻的產品，然而由于表面花色的均勻與否，并無統一的標準以及明確的數值可予以界定，僅能依賴生產線人員其個人主觀意識與個人經驗，來評斷產品表面是否過花，但由于不同檢測人員之間，彼此對于均勻的感官認知均不相同，往往對于瑕疵產品有誤判或過判的情事，因此，若是未能把瑕疵產品檢出而造成客戶退貨，將使得生產者必須付出額外的出貨成本。

發明內容

本發明所欲解決的技術問題與目的：

綜觀以上所述，由于在以往的表面花紋的檢測方法中，所采用的人工目測檢出方法，來檢測產品表面是否具有瑕疵，往往會有檢出標準不一以及個人主觀性不同所造成誤判或過判的問題。

因此為了解決上述問題，本發明的主要目的在于提供一種表面花紋的檢測方法，其是以自動化的判斷待測物表面花紋的不均勻度，用以改善傳統人工目測方法的缺點。

本發明解決問題的技術手段：

本發明為解決現有技術的問題所采用的技術手段為提供一種表面花紋的檢測方法，其包含以下步驟：首先對一待測物的表面擷取一具有N個像素的灰階影像，且N為正整數；接著依據一篩選比例f，選出f×N個灰階值較小的像素定義為一前景區域，并依據該前景區域的像素數量及灰階值計算出一前景平均值。

同時，選出f×N個灰階值較大的像素定義為一背景區域，并依據該背景區域的像素數量及灰階值計算出一背景平均值；最后依據該前景平均值與該背景平均值判斷該待測物的表面是否具有瑕疵。其中較佳者，該篩選比例f介于0至0.5之間，且該具有N個像素的灰階值為一常態分布。

該表面花紋的檢測方法還是先統計每一灰階值的像素數量，若該灰階值的像素數量小于一預設數量時，則忽略該灰階值的像素。

在本發明的另一較佳實施例中，當該前景平均值與該背景平均值的差值大于一預設差值時，則判斷該待測物的表面具有瑕疵。

在本發明的另一較佳實施例中，當該前景平均值大于一預設前景值，且該前景區域的像素數量大于一區域數量時，則判斷該待測物的表面具有瑕疵。

在本發明的另一較佳實施例中，另先依據該前景區域的像素的分布位置，計算出該前景區域的一分散度；且當該分散度大于一預設分散度時，則判斷該待測物的表面具有瑕疵。

此外，本發明所提供的表面花紋的檢測方法更特別適于應用在太陽能電池的檢測。

本發明對照現有技術的功效：

從以上述可知，由于在本發明所提供的一種表面花紋的檢測方法中，是利用分析待測物表面的灰階影像，藉以分類出前景區域與背景區域，并歸納其前景區域與背景區域的各項影像特性，諸如前景區域數量的多少、前景平均值與背景平均值彼此間的差值大小，以及計算前景區域的像素的分布分散度；利用該些規則定義，將可以自動地將表面具有瑕疵的待測物檢出，以避免由于人工目測所造成的誤判或過判的問題，使檢測過程中排除人為主觀意識的影響，降低檢測的失誤機率，并減少生產者的出貨成本。

通過以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。

附圖說明

圖1A至圖1E顯示不同的灰階影像示意圖；

圖2為本發明較佳實施例的表面花紋的檢測方法的流程圖；

圖3為待測物表面的灰階影像示意圖；