[發明專利]具有陣列式接點的檢測試片

有效

• 申請號: 201210063884.6
• 申請日: 2012-03-12
• 公開（公告）號: CN103308572A
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發明（設計）人: 徐添財
• 申請（專利權）人: 厚美德生物科技股份有限公司
• 主分類號: G01N27/26
• 分類號: G01N27/26
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

1.一種具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，包括：

一基板；

一電化學檢測區，位于該基板上；

一數字訊號識別區，是位于該基板上；

一絕緣層，是位于該基板上，該絕緣層至少具有N*M個由封孔及開孔所組成的陣列式接點，使該數字訊號識別區產生多個數字訊號電極，其中N*M為大于或等于8；

至少一模擬訊號電極，是位于該基板上；及

一電阻元件，其串聯該數字訊號識別區與該模擬訊號電極，以產生至少一模擬識別訊號；

其中該模擬訊號電極是作為工作電極，該數字訊號識別區是作為接地電極，該模擬訊號電極與該數字訊號識別區分別耦接該電化學檢測區。

2.根據權利要求1所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該數字訊號識別區是由一導電層所組成，而該絕緣層根據不同參數條件加工形成多個該開孔，于該多個開孔下暴露出該導電層，形成導通的該數字訊號電極，而未暴露該導電層的該多個封孔，形成未導通的該數字訊號電極，通過導通及未導通的該多個數字訊號電極以產生不同的該數字識別訊號。

3.根據權利要求2所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該導電層是以涂布法、物理氣相沉積或電鍍方式而形成于該基板上。

4.根據權利要求2所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，在導通的該多個數字訊號電極中至少包含有一參考電極。

5.根據權利要求4所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該模擬識別訊號是依據該參考電極與該模擬訊號電極經電阻值辨識而得，該模擬識別訊號表示為檢測試片種類、效期、批號或相容性產品類型。

6.根據權利要求5所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該數字識別訊號是根據取得該模擬識別訊號之后，再判讀該參考電極與導通及未導通的該多個數字訊號電極之間的電極變化，據以產生一組識別編碼，該識別編碼表示為校正參數、檢測試片類型、生產批號或生產日期。

7.根據權利要求4所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該數字訊號識別區是通過一陣列式檢測裝置讀取整組該數字訊號電極，該陣列式檢測裝置依據該參考電極與導通及未導通的該多個數字訊號電極，以解析出該數字識別訊號，該數字識別訊號具有2^(N*M-1)組變化。

8.根據權利要求4所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該模擬訊號電極是位于該絕緣層上陣列式接點的該開孔內。

9.根據權利要求8所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該數字訊號識別區是通過一陣列式檢測裝置讀取整組該數字訊號電極，該陣列式檢測裝置依據該參考電極與導通及未導通的該多個數字訊號電極，以解析出該數字識別訊號，該數字識別訊號具有2^(N*M-2)組變化。

10.根據權利要求7或9所述的具有陣列式接點的檢測試片，其特征在于，該電阻元件可變化成不同的電阻值，其為實數或無限大，可產生K組不同的模擬識別訊號，以提供具有K*2^(N*M-1)或K*2^(N*M-2)組不同的識別訊號，且K大于或等于2。