[發明專利]一種基于狹義相對論的質量分析方法與質譜儀器

有效

• 申請號: 201210063341.4
• 申請日: 2012-03-12
• 公開（公告）號: CN102592937A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 何小丹;陳琛;丁傳凡
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/34
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司 31200
• 代理人: 陸飛;盛志范

1.一種基于狹義相對論的質量分析方法，其特征在于待測物離子進入到離子源區后用加速電場將待測物離子加速到3×10⁵m/s或以上，再進入無場飛行區作自由飛行，然后進入離子探測器，被測量到，根據離子在無場飛行區飛行的時間確定該離子的靜止質量，其算式為：

=，

式中，e表示被分析物所帶電荷，E表示加速電場強度，d表示被分析物在加速電場中運動的距離，L表示無場漂移管的長度，c表示光速。

2.一種基于權利要求1所述的質量分析方法的質譜儀器，其特征在于包括：一個離子源區，一個加速電場，一個無場漂移管，一個離子檢測器；所述加速電場由三個或三個以上脈沖高壓組成，這些脈沖高壓由對應電極提供；

????將被分析物的離子源產生的離子束引入到離子源區中，在離子源區的加速電極之間加一個脈沖高壓，將離子推出離子源區，進入加速電場，離子在加速電場中被加速后進入無場漂移管，以恒定速度飛向離子檢測器，被分析物的荷質比m₀/e和時間t滿足以下關系：=，其中，e表示被分析物所帶電荷，E表示加速電場強度，d表示被分析物在加速電場中運動的距離，L表示無場漂移管的長度，c表示光速。