[發明專利]聚焦全內反射法測量物質折射率分布

有效

• 申請號: 201210062142.1
• 申請日: 2012-03-12
• 公開（公告）號: CN102590142A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 葉青;孫騰騫;王槿;鄧志超;張春平;田建國
• 申請（專利權）人: 南開大學
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種物質折射率分布的測定方法，基于全內反射原理，其特征在于，這種方法包括以下步驟：

第一步，使用柱面鏡將光源的出射光線會聚，并聚焦在折射率已知的棱鏡和待測物質的接觸面的一條水平直線上，使用面陣光電耦合器件測量反射光強分布，使用計算機采集數據，同一橫坐標的一系列數據對應不同角度的入射光在樣品同一點上的反射光強，屏蔽光源，由此得到環境背底和噪聲的分布并存儲；

第二步，取消對光源的屏蔽，以折射率已知的空氣作為樣品，重復上一測量、采集過程，得到空氣的反射光強分布并存儲；

第三步、測量待測樣品樣品，重復第一步測量、采集過程，得到待測樣品的反射光強分布并存儲；

第四步，分別使用第一步和第二步得到的光強分布減去第三步得到的光強分布，得到除去背底和噪聲的空氣反射光強分布和待測物品的反射光強分布，使用待測物品的反射光強分布作分子，使用以空氣作為樣品的反射光強分布作分母，逐點相除，得到待測樣品的反射率分布；

第五步，由第四步得到的待測樣品反射率分布數據，其同一橫坐標對應的一系列數據表示一系列不同角度的入射光在樣品同一點上的反射率分布，對同一橫坐標的數據進行求導，其導數的最大值的位置所對應的入射光的角度即是該點發生全內反射的臨界角，依次對其它同一橫坐標的反射率分布重復這一過程，得到當前一條直線上所有點發生全內反射的臨界角，通過臨界角對應的坐標位置和折射率的關系，進而得到每一個點的折射率的值；

第六步，改變升降臺的高度，從而改變會聚光聚焦在樣品上的位置，重復第五步過程，得到待測樣品不同高度每一條直線上的折射率分布，進而得到待測物質的二維折射率分布。

2.如權利要求書1所述的物質折射率分布的測定方法，其特征在于，所述的光源為非相干光。

3.如權利要求書1所述的物質折射率分布的測定方法，其特征在于，所述的棱鏡的位置是固定的。?