[發明專利]測試信號接收單元的測試電路、圖像拾取裝置、測試方法

無效

• 申請號: 201210060872.8
• 申請日: 2012-03-09
• 公開（公告）號: CN102680811A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 沖田彰;巖根正晃;有島優;箕輪雅章
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;H04N5/374
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 楊小明

技術領域

本發明的實施例涉及用于測試信號接收單元的測試電路、圖像拾取裝置、用于測試信號接收單元的測試系統、測試信號接收單元的方法、以及測試圖像拾取裝置的方法。

背景技術

在多個列中設置信號線并且信號接收單元(以下，稱為SRU)與各信號線連接的裝置是已知的。這種裝置的例子包括諸如存儲器的存儲裝置、諸如液晶面板的顯示器、具有用于從像素讀取信號的SRU的互補金屬氧化物半導體(CMOS)型圖像拾取裝置、以及使用雙極晶體管的圖像拾取裝置等。日本專利公開No.2000-324404公開了具有測試設置在各列中的用于處理信號的電路的特性的功能的圖像拾取裝置。

在日本專利公開No.2000-324404中所公開的圖像拾取裝置中，為了使得能夠測量將從像素輸出的模擬信號轉換成數字信號的模擬-數字轉換器的特性(characteristic)，測試信號產生器與垂直信號線連接。在該配置中，從測試信號產生器向垂直信號線供給電流，并且，測量與垂直信號線連接的模擬-數字轉換器的特性。

在日本專利公開No.2000-324404中所公開的配置中，測試信號從單個測試信號產生器被供給到所有列的像素，由此，從測試信號產生器到各垂直信號線的電路徑的阻抗隨著距測試信號產生器的距離而增大。結果，在當開始向SRU供給測試信號時供給到各SRU的測試信號中出現大的差異。因此，如果不等待被供給到SRU的測試信號的差異變小而執行測試，那么出現測量精度的降低。如果在供給到SRU的測試信號的差異已變得足夠小之后執行測試，那么測試精度會增大。但是，等待所述差異變小導致測試時間增大。

發明內容

根據本發明的其中的一個方面，公開了一種測試電路，該測試電路包括：被配置為通過信號線向設置在多個列中的信號接收單元供給測試信號的測試信號供給單元，其中，測試信號供給單元是電壓緩沖器或電流緩沖器，并且，測試電路具有多個測試信號供給單元和多個信號線，其中，至少一個測試信號供給單元電連接不同于電連接另外的測試信號供給單元的信號線的一個信號線。

根據本發明的另一方面，公開了一種測試設置在多個列中的信號接收單元的方法，該方法包括：從用作測試信號供給單元的多個電壓緩沖器或電流緩沖器向信號接收單元供給測試信號，使得測試信號供給單元中的一個向與從另外的不同的測試信號供給單元被供給測試信號的信號接收單元不同的信號接收單元供給測試信號；和通過使用供給到信號接收單元的測試信號來測試信號接收單元。

從參照附圖對示例性實施例的以下描述，本發明的其它特征將變得明白。

附圖說明

圖1是示意性地示出第一實施例的框圖。

圖2是根據第一實施例的驅動定時圖。

圖3是示意性地示出第二實施例的框圖。

圖4是根據第二實施例的驅動定時圖。

圖5是示意性地示出第三實施例的框圖。

圖6是根據第三實施例的驅動定時圖。

圖7是示意性地示出第四實施例的框圖。

圖8A和圖8B是示意性地示出根據實施例的圖像拾取裝置的配置的例子的框圖。

圖9是示意性地示出根據實施例的SRU測試電路的例子的框圖。

圖10是示意性地示出根據第一實施例的另一配置的框圖。

具體實施方式

首先，以下描述根據實施例的SRU測試電路的配置和測試操作。實施例的一個公開的特征可被描述為通常示為流程圖、流程示圖、定時圖、結構圖或框圖的處理。雖然流程圖或定時圖可將操作或事件描述為依次的處理，但是，可以并行或同時地執行操作或者出現事件。流程圖中的操作可以是任選的。另外，操作或事件的次序可被重新布置。當其操作完成時，處理終止。處理可對應于方法、程序、過程、制作或制造的方法、由裝置、機器或邏輯電路執行的一系列的操作等。