[發(fā)明專利]液晶屏的RGB接口測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210060098.0
• 申請(qǐng)日: 2012-03-08
• 公開（公告）號(hào): CN102591046A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 喬偉雄
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 無(wú)錫博一光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44265
• 代理人: 林才桂

1.一種液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、提供測(cè)試治具，所述測(cè)試治具包括：測(cè)試模塊、電性相連于該測(cè)試模塊的控制模塊、及電性相連于該測(cè)試模塊的背光源驅(qū)動(dòng)模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲(chǔ)模塊，所述存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述控制模塊包括電性連接于該微處理器的液晶驅(qū)動(dòng)模塊，所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊具有一SPI接口，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊電性連接于該微處理器；

步驟2、將待測(cè)液晶屏與控制模塊及背光源驅(qū)動(dòng)模塊電性連接；

步驟3、接通該測(cè)試治具電源，微處理器運(yùn)行測(cè)試程序并對(duì)電性連接于該微處理器的背光源驅(qū)動(dòng)模塊及液晶驅(qū)動(dòng)模塊進(jìn)行檢測(cè)；

步驟4、若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊或液晶驅(qū)動(dòng)模塊異常，則發(fā)出報(bào)警提示，若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊及液晶驅(qū)動(dòng)模塊無(wú)異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊及液晶驅(qū)動(dòng)模塊進(jìn)行初始化；

步驟5、微處理器控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)液晶屏的背光源工作，所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊根據(jù)該微處理器傳送過(guò)來(lái)的控制命令，通過(guò)該SPI接口按照MCU模式初始化待測(cè)液晶屏；

步驟6、所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊將所述微處理器的傳送過(guò)來(lái)的測(cè)試信號(hào)直接傳送給待測(cè)待測(cè)液晶屏，所述待測(cè)液晶屏根據(jù)該測(cè)試信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像；

步驟7、判斷圖像是否異常，無(wú)異常，則該待測(cè)液晶屏為合格，異常，則該待測(cè)液晶屏為不合格。

2.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具設(shè)有一JTAG接口，該JTAG接口電性連接于該存儲(chǔ)模塊，通過(guò)該JTAG接口將測(cè)試程序燒錄到測(cè)試模塊的存儲(chǔ)模塊中。

3.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟6中待測(cè)液晶屏根據(jù)測(cè)試信號(hào)依次顯示黑、白、紅、綠、藍(lán)、灰階、彩色圖像。

4.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具還包括一接口模塊及一蜂鳴器，該接口模塊與背光源驅(qū)動(dòng)模塊及控制模塊電性連接，測(cè)試時(shí)該待測(cè)液晶屏安裝及電性連接于該接口模塊上，該蜂鳴器電性連接于所述微處理器。

5.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟7中圖像無(wú)異常，該微處理器發(fā)出該待測(cè)液晶屏合格的信號(hào)，所述信號(hào)為該待測(cè)液晶屏顯示PASS畫面及蜂鳴器發(fā)出合格提示音。

6.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具還設(shè)有一電性連接于所述微處理器的中斷開關(guān)，當(dāng)所述步驟7中圖像異常時(shí)，通過(guò)該中斷開關(guān)中斷待測(cè)液晶屏上圖像的轉(zhuǎn)換，以便對(duì)該異常畫面進(jìn)行分析。

7.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具數(shù)據(jù)傳輸位為8位、16位或18位。

8.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)液晶屏初始化后，該微處理器通過(guò)控制模塊不停地往待測(cè)液晶屏寫數(shù)據(jù)。

9.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試模塊為L(zhǎng)PC2138芯片，所述控制模塊為SSD1963芯片。

10.如權(quán)利要求1所述的液晶屏的RGB接口測(cè)試方法，其特征在于，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊為CP2123芯片。