[發明專利]直接轉換探測器的電路裝置和讀取直接轉換探測器的方法

有效

• 申請號: 201210059318.8
• 申請日: 2012-03-08
• 公開（公告）號: CN102681002A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: C.施羅特
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;G01T1/17;H04N5/32
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種電離輻射探測器(C3，C5)，特別是CT系統(C1)的探測器的電路裝置，具有多個輻射敏感的部分平面(T₁，T₂)，其中，作為輻射敏感的材料提供直接轉換的半導體材料，并且每個部分平面與單獨讀取所述部分平面的特有的讀取電子器件(I，II)對應，所述讀取電子器件分別具有至少一個脈沖整形器(S)，其特征在于，所述脈沖整形器(S)的一部分構造為具有較長的整形時間常數，而該脈沖整形器(S)的另一部分構造為具有較短的整形時間常數。

2.根據上述權利要求1所述的電路裝置，其特征在于：

2.1.設置多個在探測器的平面延伸上方分布的探測器元件(D)，其中每個探測器元件(D)被構造為用于測量一條射線，并且

2.2.每個探測器元件(D)被劃分為至少兩個輻射敏感的部分平面(T₁，T₂)，其中，在每個探測器元件(D)內構造至少一個具有帶有較長的整形時間常數的脈沖整形器(S)的部分平面(T₂)以及至少一個具有帶有較短的整形時間常數的脈沖整形器(S)的部分平面(T₁)。

3.根據上述權利要求2所述的電路裝置，其特征在于，所述探測器元件(D)具有多個部分平面(T₁，T₂)，其中，具有長的整形時間常數的部分平面(T₂)的數量與具有短的整形時間常數的部分平面的數量(T₁)以+/-1相等。

4.根據上述權利要求1至3中任一項所述的電路裝置，其特征在于，所有部分平面(T₁，T₂)是大小相同的。

5.根據上述權利要求1至4中任一項所述的電路裝置，其特征在于，所有探測器元件(D)是大小相同的。

6.根據上述權利要求1至5中任一項所述的電路裝置，其特征在于，從所述探測器材料獲得的輸出信號經由放大級(V)傳輸到脈沖整形器(S)。

7.根據上述權利要求1至6中任一項所述的電路裝置，其特征在于，在所述脈沖整形器(S)后面布置至少一個離散的計數器(K，T)。

8.根據上述權利要求1至7中任一項所述的電路裝置，其特征在于，將各個探測器元件(D)的所有來自于具有短的整形時間常數的部分平面(T₁)的測量值輸出端與所有來自于具有長的整形時間常數的部分平面(T₂)的測量值輸出端合計地連接。

9.根據上述權利要求1所述的電路裝置，其特征在于：

9.1.所述部分平面形成單個的探測器元件(D)，其中每個探測器元件(D)被構造為用于測量一條射線，并且

9.2.每個探測器元件(D)與至少一個具有較長的整形時間常數的脈沖整形器(S)以及與至少一個具有較短的整形時間常數的脈沖整形器(S)相連接。

10.一種用于讀取電離輻射直接轉換探測器、特別是CT系統(C1)的探測器元件的方法，其特征在于：

10.1.每個分別總共測量一條射線的探測器元件(D)被劃分為至少兩個可分開探測的部分平面(T₁，T₂)，其中，每個部分平面(T₁，T₂)與具有脈沖整形器(S)的單獨的測量電子器件(I，II)對應，該脈沖整形器分別將相同的電荷量轉換為相同高度和形狀的信號，而與通過該電荷量所產生的信號曲線的形狀和高度無關，并且

10.2.在每個探測器元件(D)中，探測至少一個具有帶有較長的整形時間常數的脈沖整形器(S)的部分平面(T₂)以及至少一個具有帶有較短的整形時間常數的脈沖整形器(S)的部分平面(T₁)。

11.根據上述權利要求10所述的方法，其特征在于，在通過每個探測器元件(D)進行的取決于當前局部光子流的掃描中，在高的光子流的情況下主要考慮具有較短的整形時間常數的部分平面(T₁)的測量值，并且在低的光子流的情況下考慮具有較長的整形時間常數的部分平面(T₂)的測量值，以用于對于探測器元件(D)形成總的測量值。