[發(fā)明專(zhuān)利]一種雙波段探測(cè)器及利用雙波段探測(cè)器的過(guò)采樣探測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210058493.5
• 申請(qǐng)日: 2012-03-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102540273A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周峰;吳立民;張文昱;劉兆軍;張濤;張寅生;胡斌;王彬;劉義良;蘇云;龍亮
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京空間機(jī)電研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01V8/10
• 分類(lèi)號(hào): G01V8/10
• 代理公司: 中國(guó)航天科技專(zhuān)利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種雙波段探測(cè)器，包括探測(cè)器基板，其特征在于還包括：平行安裝于探測(cè)器基板上的短波探測(cè)器和中波探測(cè)器，所述短波探測(cè)器或中波探測(cè)器中的探測(cè)器芯片分別分為兩行，并以品字形交錯(cuò)排列；

所述短波探測(cè)器或中波探測(cè)器的探測(cè)芯片中均具有2組沿推掃方向前后排列的像元，每組像元按N行M列的矩陣形式排列；在推掃方向上，第一組的第N行像元與第二組的第1行像元間的間距為像元寬度的整數(shù)倍；其中，N為時(shí)間延遲積分級(jí)數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的一種雙波段探測(cè)器，其特征在于：所述短波探測(cè)器或中波探測(cè)器的每個(gè)探測(cè)器芯片的兩組像元中，具有相同行號(hào)與列號(hào)的像元在垂直于推掃方向上錯(cuò)位半個(gè)像元排列。

3.一種采用權(quán)利要求1所述雙波段探測(cè)器的過(guò)采樣探測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟1：根據(jù)對(duì)目標(biāo)的推掃速度v，確定探測(cè)器的曝光頻率f＝kv/l，其中，l為同一組像元中相鄰兩行間的像元中心間距；k為探測(cè)器在時(shí)間上的過(guò)采樣級(jí)數(shù)；

步驟2：所述探測(cè)器中的短波探測(cè)器和中波探測(cè)器中的像元分別根據(jù)曝光頻率對(duì)目標(biāo)進(jìn)行曝光，獲得每個(gè)像元的曝光圖像；

步驟3：在短波探測(cè)器或中波探測(cè)器中，分別對(duì)兩組像元獲得的曝光圖像進(jìn)行重組形成目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)；其中，在推掃方向上排列靠后的一組像元輸出目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)的奇像素；在推掃方向上排列靠前的一組像元輸出目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)的偶像素。