[發明專利]一種雙波段探測器及利用雙波段探測器的過采樣探測方法

有效

• 申請號: 201210058493.5
• 申請日: 2012-03-07
• 公開（公告）號: CN102540273A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 周峰;吳立民;張文昱;劉兆軍;張濤;張寅生;胡斌;王彬;劉義良;蘇云;龍亮
• 申請（專利權）人: 北京空間機電研究所
• 主分類號: G01V8/10
• 分類號: G01V8/10
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種雙波段探測器，包括探測器基板，其特征在于還包括：平行安裝于探測器基板上的短波探測器和中波探測器，所述短波探測器或中波探測器中的探測器芯片分別分為兩行，并以品字形交錯排列；

所述短波探測器或中波探測器的探測芯片中均具有2組沿推掃方向前后排列的像元，每組像元按N行M列的矩陣形式排列；在推掃方向上，第一組的第N行像元與第二組的第1行像元間的間距為像元寬度的整數倍；其中，N為時間延遲積分級數。

2.如權利要求1所述的一種雙波段探測器，其特征在于：所述短波探測器或中波探測器的每個探測器芯片的兩組像元中，具有相同行號與列號的像元在垂直于推掃方向上錯位半個像元排列。

3.一種采用權利要求1所述雙波段探測器的過采樣探測方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟1：根據對目標的推掃速度v，確定探測器的曝光頻率f＝kv/l，其中，l為同一組像元中相鄰兩行間的像元中心間距；k為探測器在時間上的過采樣級數；

步驟2：所述探測器中的短波探測器和中波探測器中的像元分別根據曝光頻率對目標進行曝光，獲得每個像元的曝光圖像；

步驟3：在短波探測器或中波探測器中，分別對兩組像元獲得的曝光圖像進行重組形成目標圖像數據；其中，在推掃方向上排列靠后的一組像元輸出目標圖像數據的奇像素；在推掃方向上排列靠前的一組像元輸出目標圖像數據的偶像素。