[發(fā)明專利]一種星上點(diǎn)目標(biāo)檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210058449.4
• 申請日: 2012-03-07
• 公開（公告）號: CN102663385A
• 公開（公告）日: 2012-09-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邢坤;周峰;吳立民;劉兆軍;張濤;張寅生;胡斌;王斌
• 申請（專利權(quán)）人: 北京空間機(jī)電研究所
• 主分類號: G06K9/32
• 分類號: G06K9/32
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種星上點(diǎn)目標(biāo)檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟1：利用TDI?CCD的非均勻校正系數(shù)對獲得的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行輻射校正處理，對輻射校正后的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行幾何校正處理；所述圖像數(shù)據(jù)通過對TDI?CCD獲取的圖像信號進(jìn)行過采樣獲得；

步驟2：對經(jīng)過步驟1處理的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行背景抑制處理，去除圖像數(shù)據(jù)中背景圖像數(shù)據(jù)獲得目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)；

步驟3：剔除經(jīng)過步驟2獲得的目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)中的粒子尖峰，獲得目標(biāo)過采樣圖像數(shù)據(jù)；

步驟4：利用步驟3獲得的目標(biāo)過采樣圖像數(shù)據(jù)確定目標(biāo)位置數(shù)據(jù)并輸出。

2.如權(quán)利要求1所述的一種星上點(diǎn)目標(biāo)檢測方法，其特征在于：步驟1中所述的非均勻校正系數(shù)通過以下步驟獲得：

步驟11：確定圖像數(shù)據(jù)中的每列像素的灰度均值；

步驟12：根據(jù)相鄰列像素灰度均值差值最小原則，采用粒子群算法對步驟11中獲得的處理的每列像素的灰度均值進(jìn)行優(yōu)化獲得非均勻校正系數(shù)。

3.如權(quán)利要求1所述的一種星上點(diǎn)目標(biāo)檢測方法，其特征在于：所述步驟2中對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行背景抑制處理，去除圖像數(shù)據(jù)中背景圖像數(shù)據(jù)獲得目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)的方法為：

步驟21：利用二維快速傅里葉變換方法對連續(xù)兩幀圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行配準(zhǔn)處理；

步驟22：對經(jīng)步驟21配準(zhǔn)后的連續(xù)兩幀圖像數(shù)據(jù)采用基于兩幀序貫M估計(jì)的時空域融合算法確定圖像數(shù)據(jù)中的背景圖像數(shù)據(jù)；

步驟23：利用差分法將步驟22中獲得的背景圖像數(shù)據(jù)從經(jīng)步驟21獲得的圖像數(shù)據(jù)中去除，獲得目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)。

4.如權(quán)利要求1所述的一種星上點(diǎn)目標(biāo)檢測方法，其特征在于：所述步驟3中剔除目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)粒子尖峰的步驟為：

步驟31：對目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)按灰度值進(jìn)行分割處理；

步驟32：對經(jīng)過步驟31處理的目標(biāo)圖像數(shù)據(jù)，利用雙向過采樣形成的形狀信息剔除粒子尖峰，輸出目標(biāo)過采樣圖像數(shù)據(jù)。