[發明專利]探測X射線輻射的方法和直接轉換探測器的探測器系統

無效

• 申請號: 201210057340.9
• 申請日: 2012-03-06
• 公開（公告）號: CN102681001A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: E.克拉夫特;D.尼德爾洛納;C.施羅特
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01T1/24
• 分類號: G01T1/24
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種利用直接轉換探測器(3，5)光子計數地探測X射線輻射的方法，其中，

1.1.依據現有輻射能量產生與其盡可能成比例的電流脈沖和/或電壓脈沖，并且

1.2.在超過預定的電流門限或電壓門限的情況下在所述探測器(3，5)中計數所產生的電流脈沖和/或電壓脈沖，

其特征在于，

1.3.將如下的門限用作預定的電流門限或電壓門限：所述門限對應于具有比所使用的探測器材料的k邊緣更小的能量的光子的探測。

2.根據上述權利要求1所述的方法，其特征在于，所使用的門限同時大于在測量系統中出現的噪聲電平。

3.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，所述門限被這樣設置，使得其對應于小于23keV，優選小于20keV，優選小于10keV，優選在10keV與5keV之間的入射光子。

4.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，使用連續工作的脈沖高度鑒別器(K)以用于測量。

5.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，使用時鐘控制工作的脈沖高度鑒別器(T)以用于測量。

6.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，使用由至少兩個邏輯關聯地工作的脈沖高度鑒別器組成的組合以用于測量輻射，其中，使用至少一個連續工作的脈沖高度鑒別器(K)和至少一個時鐘控制工作的脈沖高度鑒別器(T)。

7.根據上述權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，在所述探測器(3，5)中實施用于將分析電子器件的噪聲最小化的措施。

8.根據上述權利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，對于所有探測器元件使用同樣的門限以用于優化由多個探測器元件組成的探測器的能量分辨率。

9.根據上述權利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，對于每個探測器元件使用單獨的門限以用于最大地減少由多個探測器元件組成的探測器的響應特性的漂移。

10.一種利用直接轉換探測器元件光子計數地探測X射線輻射的探測器系統，其特征在于，所述探測器元件及其分析電子器件這樣實施，使得執行根據上述權利要求中任一項所述的方法。