[發明專利]平面動態電弧光譜同步實時掃描采集裝置無效
| 申請號: | 201210056403.9 | 申請日: | 2012-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN102607700A | 公開(公告)日: | 2012-07-25 |
| 發明(設計)人: | 張旺;華學明;李芳;袁磊;潘成剛 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 平面 動態 電弧 光譜 同步 實時 掃描 采集 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及電子測量與控制領域,特別涉及一種平面動態電弧光譜同步實時掃描采集裝置。
背景技術
等離子體的溫度和成分影響金屬過渡和金屬的溶滴的熱輸入研究,所以是一個值得優化的過程。光譜法是針對等離子體輻射的一種測量分析方法,其原理是借助光譜儀器將電弧輻射信號分解為光譜信號,再根據光譜強度與電弧等離子體內部溫度、粒子濃度、成分的關系等規律來反映電弧內部的物理狀態及其過程。文獻[1]通過電弧光譜計算電弧的電子溫度,將其變化規律與熔池表面信號對應,發現光譜信號能很好對應焊接表面的缺陷特征。文獻[2]通過光譜信息分析對TIG焊接過程引弧過程進行了研究。文獻[3,4]通過光譜信息的分析得到了MIG焊接過程的溫度場、電子密度和金屬濃度空間分布。
目前對于電弧測量一種方法是直接將電弧看做點光源,例如文獻[1,5]。但是將整個電弧看做一個整體來分析電弧的物理參數,這種方法只能得到光譜宏觀的一個參數,無法得到光譜空間和時間域的物理信息,目前僅用于等離子焊接過程質量檢測,不能用于計算分析電弧空間和時間物理參數的變化規律。
第二種方法是應用帶狹縫的光譜儀,這種光譜儀可以獲得一個平面的等離子體光譜信息,文獻[3,4]就是采用這種光譜儀,但是這種光譜儀價格昂貴,同時一次只能得到一個平面的光譜信息,只能針對電弧的某一狀態來進行分析。對于時域光譜的動態信息,尤其對于存在電弧峰值、基質、負電流狀態的復雜電弧不能進行細微區分。
文獻[2]在研究TIG引弧時設計同步觸發電路,但是在設計觸發電路時采用的是電源電壓輸出信號作為判斷源,電壓信號的采集由于是在輸出端采樣容易引入干擾信號,同時作者僅僅是對起弧信號同步,但是電弧信號還包括諸如峰值狀態、基值狀態、負電流等復雜狀態作者并未涉及,此外作者沒有對空間信息做出分析。
在科研分析過程中,我們在分析提取電弧信息時,不僅需要得到電弧光譜的空間信息,而且需要得到電弧在不同供電狀態的時域信息,并且需要能夠在不同狀態之間切換,同時為了降低整個測量過程的系統誤差,我們期望在短時間內能夠獲取電弧光譜的動態信息,能夠實現動態掃描。
?參考文獻:
1.?Alfaro,?S.C.A.,?D.?de?S.?Medonga,?and?M.S.?Matos,?Emission?spectrometry?evaluation?in?arc?welding?monitoring?system.?Journal?of?Materials?Processing?Technology,?2006.?179(1-3):p.2-9-224。
2.?粱秀娟,基于光譜診斷的TIG焊引弧過程研究.?2007,天津:天津大學。
3.?Zielińska,?S.,?et?al.,?Investigations?of?GMAW?plasma?by?optical?emission?spectroscopy.?Plasma?Sources?Science?and?Technology,?2007.?16:p.832。
4.?Rouffet,?M.,?et?al.,?Spectroscopic?investigation?of?the?high-current?phase?of?a?pulsed?GMAW?process.?Journal?of?Physics?D:?Applied?Physics,2010.?43:p.434003。
5.?柳剛,《MIG?焊熔滴過渡的電弧光譜信號.pdf》.焊接學報,2004.25。
發明內容
針對目前電弧空間和時間域動態信息掃描提取的要求,本發明提供一種平面動態電弧光譜同步實時掃描采集裝置,以保證瞬間提取不同空間位置、不同供電狀態和不同時刻的光譜信息。
本發明的技術解決方案如下:
一種平面動態電弧光譜同步實時掃描采集裝置,特點在于其構成包括電弧輸出電源、電弧電流采集傳感器、光譜儀、二維移動平臺、運動控制板卡、光譜儀硬件觸發電路、步進電機驅動器和計算機,上述部件的連接關系如下:
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