[發明專利]一種用于微缺陷的激光超聲檢測方法無效
| 申請號: | 201210055740.6 | 申請日: | 2012-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN102608123A | 公開(公告)日: | 2012-07-25 |
| 發明(設計)人: | 王繼鋒;王少軍;俞厚德;錢耀洲;湯曉英 | 申請(專利權)人: | 上海市特種設備監督檢驗技術研究院 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/49 |
| 代理公司: | 上海泰能知識產權代理事務所 31233 | 代理人: | 宋纓;孫健 |
| 地址: | 200062 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 缺陷 激光 超聲 檢測 方法 | ||
1.一種用于微缺陷的激光超聲檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)激光探頭發出脈沖激光傾斜作用在被測工件上;
(2)將空氣耦合探頭放置在激光探頭的同側,并垂直對著被測工件表面,調節空氣耦合探頭與被測工件表面的距離接收因材料缺陷而產生的散射信號;
(3)通過空氣耦合探頭接收到的散射信號來判斷材料中存在的缺陷。
2.根據權利要求1所述的用于微缺陷的激光超聲檢測方法,其特征在于,所述步驟(3)中利用示波器射頻波形上的散射信號波來判斷材料中存在的缺陷。
3.根據權利要求1所述的用于微缺陷的激光超聲檢測方法,其特征在于,所述步驟(3)后還包括將采集到的信號波數據儲存于計算機中進行分析,通過信號數據處理得到工件成像圖形的步驟。
4.根據權利要求1所述的用于微缺陷的激光超聲檢測方法,其特征在于,所述步驟(2)中空氣耦合探頭與被測工件表面的距離在2mm-15mm之間進行調節。
5.根據權利要求1所述的用于微缺陷的激光超聲檢測方法,其特征在于,所述被測工件的厚度為2mm-50mm之間。
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