[發明專利]介質處理系統、介質處理系統的控制方法以及介質處理裝置

有效

• 申請號: 201210052879.5
• 申請日: 2012-03-02
• 公開（公告）號: CN102693738A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: 前島秀俊
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18;G11B23/40;G11B7/28
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王亞愛

1.一種介質處理系統，其特征在于，具備：

錯誤率測定部，其測定寫入了規定數據的已記錄介質的錯誤率；

錯誤率判定部，其判定所述錯誤率測定部的測定結果是否為預先設定的規定的閾值以下；和

數據寫入部，其在所述錯誤率判定部的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，將記錄于所述已記錄介質中的所述規定數據寫入到其它的介質中。

2.根據權利要求1所述的介質處理系統，其特征在于，

所述介質處理系統還具備：

標簽印刷部，其在介質的標簽面進行印刷；和

標簽信息取得部，其取得被印刷在所述已記錄介質的標簽面上的信息即標簽信息，

所述標簽印刷部在所述錯誤率判定部的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，在所述其它的介質的標簽面上，執行基于所述標簽信息的印刷。

3.根據權利要求2所述的介質處理系統，其特征在于，

所述標簽印刷部在所述錯誤率判定部的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，在所述已記錄介質的標簽面上印刷表示所述測定結果超過了所述規定的閾值的信息。

4.根據權利要求2或3所述的介質處理系統，其特征在于，

所述標簽印刷部在所述錯誤率判定部的判定的結果為所述測定結果為所述規定的閾值以下的情況下，在所述已記錄介質的標簽面上印刷與測定出的所述錯誤率相關的錯誤率信息。

5.根據權利要求4所述的介質處理系統，其特征在于，

在所述錯誤率信息中包含所述錯誤率的最大值以及表示所述錯誤率的圖形之中的至少一者。

6.根據權利要求2～5中的任一項所述的介質處理系統，其特征在于，

所述介質處理系統由介質處理裝置和信息處理裝置構成，并連接為所述介質處理裝置與所述信息處理裝置能進行通信，其中，所述介質處理裝置具有所述錯誤率測定部、所述數據寫入部以及所述標簽印刷部，所述信息處理裝置具有所述錯誤率判定部以及所述標簽信息取得部。

7.一種介質處理系統的控制方法，其特征在于，執行如下步驟：

錯誤率測定步驟，測定寫入了規定數據的已記錄介質的錯誤率；

錯誤率判定步驟，判定所述錯誤率測定步驟的測定結果是否為預先設定的規定的閾值以下；和

數據寫入步驟，在所述錯誤率判定步驟的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，將記錄于所述已記錄介質中的所述規定數據寫入到其它的介質中。

8.根據權利要求7所述的介質處理系統的控制方法，其特征在于，

所述介質處理系統的控制方法還具備：

標簽印刷步驟，在介質的標簽面進行印刷；和

標簽信息取得步驟，取得被印刷在所述已記錄介質的標簽面上的信息即標簽信息，

所述標簽印刷步驟中，在所述錯誤率判定步驟的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，在所述其它的介質的標簽面上，執行基于所述標簽信息的印刷。

9.根據權利要求8所述的介質處理系統的控制方法，其特征在于，

所述標簽印刷步驟中，在所述錯誤率判定步驟的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，在所述已記錄介質的標簽面上印刷表示所述測定結果超過了所述規定的閾值的信息。

10.根據權利要求8或9所述的介質處理系統的控制方法，其特征在于，

所述標簽印刷步驟中，在所述錯誤率判定步驟的判定的結果為所述測定結果為所述規定的閾值以下的情況下，在所述已記錄介質的標簽面上印刷與測定出的所述錯誤率相關的錯誤率信息。

11.一種介質處理裝置，其特征在于，具備：

錯誤率測定部，其測定寫入了規定數據的已記錄介質的錯誤率；

錯誤率判定部，其判定所述錯誤率測定部的測定結果是否為預先設定的規定的閾值以下；和

數據寫入部，其在所述錯誤率判定部的判定的結果為所述測定結果超過了所述規定的閾值的情況下，將記錄于所述已記錄介質中的所述規定數據寫入到其它的介質中。