[發(fā)明專利]用于望遠鏡的簡化檢驗平臺及自檢驗望遠鏡

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210044392.2
• 申請日: 2012-02-23
• 公開（公告）號: CN102680209B
• 公開（公告）日: 2016-11-30
• 發(fā)明（設計）人: G·佩蘭;A·利奧塔爾;H·貝納爾
• 申請（專利權(quán)）人: 泰勒斯公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314
• 代理人: 程偉;王錦陽

1.一種用于望遠鏡類型的光學儀器的光學檢驗平臺，所述儀器(100)包括光學物鏡(110)、布置在所述光學物鏡的焦點上的光電探測殼體(120)、以及布置在所述光電探測殼體附近的至少一個光源(121)，所述光學物鏡的光瞳具有第一直徑，

其特征在于，所述平臺包括具有小于所述第一直徑的第二直徑的平面反射鏡(130)，以及能夠?qū)⑺銎矫娣瓷溏R布置為使得由所述光學物鏡產(chǎn)生的和由所述平面反射鏡反射的所述光源的圖像聚焦在所述光電探測殼體上的裝置，所述平臺包括用于分析接收到的所述圖像從而能夠確定所述望遠鏡的光學質(zhì)量的分析裝置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于望遠鏡類型的光學儀器的光學檢驗平臺，其特征在于，所述分析裝置包括用于接收到的所述圖像的波前分析器，從而估計所述儀器的“WFE”。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于望遠鏡類型的光學儀器的光學檢驗平臺，其特征在于，所述第二直徑與所述第一直徑的比在30％和80％之間。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于望遠鏡類型的光學儀器的光學檢驗平臺，其特征在于，所述第二直徑與所述第一直徑的比等于大約60％。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于望遠鏡類型的光學儀器的光學檢驗平臺，其特征在于，所述光源包括至少一個照明源以及一個光纖，所述光纖的其中一個端部布置在所述光電探測殼體的感光表面附近。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于望遠鏡類型的光學儀器的光學檢驗平臺，其特征在于，所述光源包括至少兩個照明光纖，所述光學物鏡在預定波長上工作，第一光纖布置在垂直于所述物鏡的光軸的第一平面內(nèi)，第二光纖布置在平行于所述第一平面且相對于所述第一平面偏移的第二平面內(nèi)。

7.一種光學望遠鏡(100)，包括光學物鏡(110)、布置在所述光學物鏡的焦點上的光電探測殼體(120)、以及布置在所述光電探測殼體附近的至少一個光源(121)，所述光學物鏡的光瞳具有第一直徑，所述望遠鏡還包括可移動遮罩(140)，該可移動遮罩(140)具有兩個位置，第一個打開或使用位置使得該可移動遮罩能夠不覆蓋所述物鏡的整個光瞳，第二個關(guān)閉或測試位置使得該可移動遮罩能夠保護所述物鏡的整個光瞳，

其特征在于，所述可移動遮罩(140)包括具有小于所述第一直徑的第二直徑的平面反射鏡(130)，所述平面反射鏡布置為當所述可移動遮罩處于關(guān)閉位置時使得由所述光學物鏡產(chǎn)生的和由所述平面反射鏡反射的光源的圖像聚焦在所述光電探測殼體上，所述望遠鏡包括用于分析接收到的所述圖像從而能夠確定所述望遠鏡的光學質(zhì)量的分析裝置。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學望遠鏡，其特征在于，所述第二直徑與所述第一直徑的比在30％和80％之間。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光學望遠鏡，其特征在于，所述第二直徑與所述第一直徑的比等于大約60％。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學望遠鏡，其特征在于，所述光源包括至少一個照明源以及一個光纖，所述光纖的其中一個端部布置在所述光電探測殼體的感光表面附近。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光學望遠鏡，其特征在于，所述光源包括至少兩個照明光纖，所述光學物鏡在預定波長上工作，第一光纖布置在垂直于所述物鏡的光軸的第一平面內(nèi)，第二光纖布置在平行于所述第一平面且相對于所述第一平面偏移的第二平面內(nèi)。

12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學望遠鏡，其特征在于，所述分析裝置包括用于接收到的所述圖像的至少一個波前分析器，從而估計所述儀器的“WFE”。