[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210043825.2 | 申請日: | 2012-02-23 |
| 公開(公告)號: | CN102683330A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 福田昌利;渡部博 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H01L25/065 | 分類號: | H01L25/065;H01L23/31;H01L23/29;H01L21/98 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 劉瑞東;陳海紅 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 以及 制造 方法 | ||
本申請享受2011年3月11日申請的日本專利申請2011-54534的優(yōu)先權(quán),在本申請中引用該日本專利申請的全部內(nèi)容。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實施方式涉及半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法。
背景技術(shù)
近年,伴隨著電子設(shè)備的高機(jī)能化以及小型化的要求,半導(dǎo)體集成電路的高密度安裝技術(shù)的開發(fā)取得進(jìn)展。作為這樣的安裝技術(shù)的一例,有在半導(dǎo)體芯片上將其他半導(dǎo)體芯片以面向下的方式搭載的芯片上芯片(chip?on?chip)型的系統(tǒng)級封裝的技術(shù)。這樣的芯片上芯片構(gòu)造著眼于有效地實現(xiàn)半導(dǎo)體封裝的小型化,工作的高速化,省電化。
在芯片上芯片型的構(gòu)造中,半導(dǎo)體芯片間的連接,通常以經(jīng)由微小的凸起以倒裝芯片方式進(jìn)行。并且,為了保護(hù)連接部不受濕度等的周圍環(huán)境的影響,且確保機(jī)械強(qiáng)度,在半導(dǎo)體芯片間注入樹脂材料形成底部填充層。
但是,在現(xiàn)有技術(shù)的芯片上芯片型的半導(dǎo)體裝置中,若重復(fù)低溫-高溫的溫度周期,則上級的半導(dǎo)體芯片的側(cè)面和構(gòu)成底部填充層的底部填充樹脂之間容易產(chǎn)生剝離。而且,可能發(fā)生該剝離在底部填充樹脂內(nèi)成為龜裂并傳播,下級的半導(dǎo)體芯片的內(nèi)部布線被切斷等的缺陷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的課題是提供在溫度周期等的施加時,能夠抑制底部填充樹脂的剝離,防止半導(dǎo)體芯片的斷線缺陷等的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法。
實施方式的半導(dǎo)體裝置具備:布線基板,其在至少一個主面(主表面)具有布線層;半導(dǎo)體芯片疊層體,其在所述布線基板的所述主面安裝,以預(yù)定的間隔重疊配置有2個以上的半導(dǎo)體芯片,且各半導(dǎo)體芯片相互地經(jīng)由凸起被電連接;底部填充層,其包括在所述半導(dǎo)體芯片疊層體的各半導(dǎo)體芯片之間的間隙填充的樹脂;和密封層,其包括覆蓋并形成于所述半導(dǎo)體芯片疊層體的外側(cè)的模塑樹脂;
所述底部填充層包括包含胺系的固化劑的樹脂材料的固化物,且所述固化物的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)為65℃以上且100℃以下。
另一實施方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法具備:準(zhǔn)備在至少一個主面具有布線層的布線基板的步驟;將2個以上的半導(dǎo)體芯片在所述布線基板的主面以預(yù)定的間隔重疊配置,將各半導(dǎo)體芯片相互地經(jīng)由凸起電連接而安裝的步驟;在所述半導(dǎo)體芯片疊層體的各半導(dǎo)體芯片間的間隙注入填充熱固化性樹脂材料的步驟;通過使所述熱固化性樹脂材料熱固化,在所述間隙形成包括底部填充樹脂的底部填充層的步驟;和以覆蓋所述半導(dǎo)體芯片疊層體的外側(cè)的方式形成包括模塑樹脂的密封層的步驟;
所述底部填充樹脂包含胺系的固化劑,具有65℃以上且100℃以下的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)。
根據(jù)上述構(gòu)成的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法,在溫度周期等的施加時,能夠抑制底部填充樹脂的剝離,防止半導(dǎo)體芯片的斷線缺陷等。
附圖說明
圖1是表示第1實施方式的半導(dǎo)體裝置的截面圖。
圖2是表示第2實施方式的半導(dǎo)體裝置的截面圖。
具體實施方式
根據(jù)一個實施方式,提供具備如下的半導(dǎo)體裝置:布線基板,其在至少一個主面具有布線層;半導(dǎo)體芯片疊層體,其在所述布線基板的所述主面安裝,以預(yù)定的間隔重疊配置有2個以上的半導(dǎo)體芯片,且各半導(dǎo)體芯片相互地經(jīng)由凸起被電連接;底部填充層,其包括在所述半導(dǎo)體芯片疊層體的各半導(dǎo)體芯片之間的間隙填充的樹脂;和密封層,其包括覆蓋所述半導(dǎo)體芯片疊層體的外側(cè)和/或形成于所述半導(dǎo)體芯片疊層體的外側(cè)的模塑樹脂。在這樣的半導(dǎo)體裝置中,所述底部填充層包括包含胺系的固化劑的樹脂材料的固化物,且所述固化物的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)為65℃以上且100℃以下。
另外,根據(jù)一個實施方式,提供具備如下步驟的半導(dǎo)體裝置的制造方法:準(zhǔn)備在至少一個主面具有布線層的布線基板的步驟;將2個以上的半導(dǎo)體芯片在所述布線基板的主面以預(yù)定的間隔重疊配置,將各半導(dǎo)體芯片相互地經(jīng)由凸起電連接而安裝的步驟;在所述半導(dǎo)體芯片疊層體的各半導(dǎo)體芯片間的間隙注入填充熱固化性樹脂材料的步驟;通過使所述熱固化性樹脂材料熱固化,在所述間隙形成包括底部填充樹脂的底部填充層的步驟;和以覆蓋所述半導(dǎo)體芯片疊層體的外側(cè)的方式形成包括模塑樹脂的密封層的步驟。在這樣的半導(dǎo)體裝置的制造方法中,所述底部填充樹脂包含胺系的固化劑,具有65℃以上且100℃以下的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)。
(第1實施方式)
圖1是表示第1實施方式的半導(dǎo)體裝置的截面圖。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L25-00 由多個單個半導(dǎo)體或其他固態(tài)器件組成的組裝件
H01L25-03 .所有包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中同一小組內(nèi)的相同類型的器件,例如整流二極管的組裝件
H01L25-16 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個或多個不同大組內(nèi)的類型的器件,例如構(gòu)成混合電路的
H01L25-18 .包含在H01L 27/00至H01L 51/00各組中兩個或多個同一大組的不同小組內(nèi)的類型的器件
H01L25-04 ..不具有單獨(dú)容器的器件
H01L25-10 ..具有單獨(dú)容器的器件
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