[發(fā)明專利]N型雙面電池的雙面擴(kuò)散方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210043317.4 | 申請日: | 2012-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN102544236A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔡文浩 | 申請(專利權(quán))人: | 常州天合光能有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 常州市維益專利事務(wù)所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
| 地址: | 213031 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 雙面 電池 擴(kuò)散 方法 | ||
1.一種N型雙面電池的雙面擴(kuò)散方法,N型硅襯底的兩面通過兩次擴(kuò)散,在N型硅襯底的兩面分別形成n+層和p+層,其特征是:在N型硅襯底的上表面通過第一次擴(kuò)散工藝在N型硅襯底的一面形成n+層或p+層后,通過LPCVD雙面沉積SiN薄膜;
接著在已經(jīng)形成擴(kuò)散層的上表面通過PECVD的方法單面沉積SiO2薄膜;
之后利用熱磷酸對SiN、SiO2進(jìn)行薄膜選擇性刻蝕,去除下表面的SiN薄膜;接著對硅片進(jìn)行清洗后完成對下表面的擴(kuò)散。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的N型雙面電池的雙面擴(kuò)散方法,其特征是:利用LPCVD雙面沉積一層厚度范圍為20-30nm的SiN薄膜,沉積溫度為700-800℃,反應(yīng)壓強(qiáng)為0.2-0.5mtorr,時間為5-10min。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的N型雙面電池的雙面擴(kuò)散方法,其特征是:通過PECVD的方法沉積一層厚度為15-20nm的SiO2薄膜,沉積溫度為300-400℃,反應(yīng)壓強(qiáng)為0.15-0.20mbar,功率為1000-1200w。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的N型雙面電池的雙面擴(kuò)散方法,其特征是:通過將硅片浸泡于155-165℃左右的熱磷酸中5-15min,去除下表面的SiN薄膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的N型雙面電池的雙面擴(kuò)散方法,其特征是:N型硅襯底先進(jìn)行B擴(kuò)散時,具體步驟為:
1)首先通過氣態(tài)B源高溫擴(kuò)散工藝實現(xiàn)p+層的摻雜,并通過濕法刻蝕的方法去除表面的硼硅玻璃、背面p-n結(jié),同時完成刻邊,至此完成了N型電池的第一次擴(kuò)散;
2)隨后利用LPCVD雙面沉積一層厚度范圍為20-30nm的SiN薄膜,沉積溫度為700-800℃,反應(yīng)壓強(qiáng)為0.2-0.5mtorr,時間為5-10min;
3)接著在擴(kuò)B面通過PECVD的方法沉積一層厚度為15-20nm的SiO2薄膜,沉積溫度為300-400℃,反應(yīng)壓強(qiáng)為0.15-0.20mbar,功率為1000-1200w;
4)之后利用熱磷酸對SiN、SiO2薄膜進(jìn)行選擇性刻蝕,將硅片浸泡于160℃的熱磷酸中5-15min,去除下表面的SiN薄膜;
5)對硅片進(jìn)行RCA清洗后完成對下表面的P擴(kuò)散,形成n+層;
6)通過HF溶液浸泡去除下表面磷硅玻璃及正表面的SiO2薄膜,HF溶液濃度為5%,浸泡時間為5-10min;
7)最后同樣采用熱磷酸浸泡的方法去除正表面的SiN薄膜,N型硅襯底的兩面分別形成n+層、p+層,完成N型雙面電池的擴(kuò)散工藝。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





