[發明專利]光學編碼器有效
| 申請號: | 201210043088.6 | 申請日: | 2012-02-23 |
| 公開(公告)號: | CN102650536A | 公開(公告)日: | 2012-08-29 |
| 發明(設計)人: | 堀口春彥;名倉千裕 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | G01D5/347 | 分類號: | G01D5/347 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 李穎 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 編碼器 | ||
1.一種光學編碼器,包括:
光源;
標尺,被配置為被光源照射,并且在一個軌跡中沿測量方向具有細節距圖案和粗節距圖案;
光電檢測器陣列,被配置為既被用于細節距圖案又被用于粗節距圖案并且檢測來自標尺的透射光或反射光,所述透射光和所述反射光是從所述光源發射的;
信號處理單元,包含被配置為從所述光電檢測器陣列產生位置檢測信號的第一初級放大器單元;以及
控制單元,被配置為使用來自第一初級放大器單元的輸出信號來控制光源的光量變化,
其中,所述光學編碼器能夠以高分辨率檢測模式和低分辨率檢測模式操作,所述高分辨率檢測模式被配置為沿測量方向以第一節距形成光電檢測器陣列以便檢測細節距圖案,所述低分辨率檢測模式被配置為沿測量方向以第二節距形成光電檢測器陣列以便檢測粗節距圖案,
所述光學編碼器包含第二初級放大器單元,其中,當在高分辨率檢測模式和低分辨率檢測模式中的至少一個中存在不被用于檢測位置的未使用的光電檢測器時,向所述第二初級放大器單元輸入未使用的光電檢測器的輸出,并且,
當存在未使用的光電檢測器時,所述控制單元基于來自第一初級放大器單元和第二初級放大器單元的輸出信號的和信號而控制光源的光量變化。
2.根據權利要求1的光學編碼器,其中,
第一初級放大器單元包含與來自光電檢測器陣列的四相位輸出對應的4個初級放大器單元。
3.根據權利要求1的光學編碼器,其中,
在高分辨率檢測模式或低分辨率檢測模式中存在未使用的光電檢測器,并且,未使用的光電檢測器的輸出被輸入到第二初級放大器單元中。
4.根據權利要求1的光學編碼器,其中,
在高分辨率檢測模式和低分辨率檢測模式中存在未使用的光電檢測器,并且,未使用的光電檢測器的輸出被輸入到第二初級放大器單元中。
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