[發明專利]一種提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法

無效

• 申請號: 201210042060.0
• 申請日: 2012-02-23
• 公開（公告）號: CN102590254A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 梁琦明;張西軍;田英明;孫克斌;鄭朋艷;王潔
• 申請（專利權）人: 中色奧博特銅鋁業有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N1/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種方法，尤其是一種提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法。

背景技術

X射線熒光光譜儀分析是一種相對分析方法，即在相同條件下，測量出待測樣品中元素的X射線熒光強度，與標準樣品的X射線熒光強度進行對比，由標準樣品的元素含量，來計算待測樣品中元素的含量。因此，必須保證標準樣品與待測樣品之間有盡量一致的物理性質；但在實際過程中，每個人員的制樣時均有較大差異。在我廠的X射線熒光光譜儀器上測試簡單黃銅時，不同操作人員對同一試樣進行測試時，元素含量差別較大，有的操作人員測出的所有元素含量相加大于102%，但有些操作人員測出的元素之和小于98%。目前，還未有好的解決方案。

發明內容

本發明的技術任務是針對上述現有技術中的不足提供一種提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法，該提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法具有各元素的成分準確，準確度和精確度大大提高，人員的差異性得到減輕的特點。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：它包括（1）控制試樣的表面粗糙度；在車制簡單黃銅試樣時，采用高速鋼車刀，并控制每次進刀量小于0.2mm，使試樣的粗糙度達到10μm以下；（2）在X射線熒光光譜儀器上，根據不同元素的被影響程度，計算出以下公式，并應用到儀器的運算中；Cu+Zn+其他元素=100%，Cu+Zn=99.88%，經過測量出的各元素的熒光強度，熒光光譜儀器根據公式自動計算出Cu、Zn等各元素的含量。

本發明的一種提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法和現有技術相比，具有以下突出的有益效果：各元素的成分準確，準確度和精確度大大提高，人員的差異性得到減輕等特點。

具體實施方式

對本發明的一種提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法作以下詳細地說明。

本發明的一種提高簡單黃銅在X射線熒光光譜測定準確度的方法，其技術參數要求：（1）控制試樣的表面粗糙度；在車制簡單黃銅試樣時，采用高速鋼車刀，并控制每次進刀量小于0.2mm，使試樣的粗糙度達到10μm以下；（2）在X射線熒光光譜儀器上，根據不同元素的被影響程度，計算出以下公式，并應用到儀器的運算中；Cu+Zn+其他元素=100%，Cu+Zn=99.88%，經過測量出的各元素的熒光強度，熒光光譜儀器根據公式自動計算出Cu、Zn等各元素的含量。

除說明書所述的技術特征外，均為本專業技術人員的已知技術。