[發明專利]回收砂漿質量的判斷方法無效
| 申請號: | 201210041869.1 | 申請日: | 2012-02-23 |
| 公開(公告)號: | CN102528957A | 公開(公告)日: | 2012-07-04 |
| 發明(設計)人: | 蔣偉鋼 | 申請(專利權)人: | 常州天合光能有限公司 |
| 主分類號: | B28D7/00 | 分類號: | B28D7/00 |
| 代理公司: | 常州市維益專利事務所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
| 地址: | 213031 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 回收 砂漿 質量 判斷 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種回收砂漿質量的判斷方法。
背景技術
目前太陽能光伏行業中硅片切割所用的耗材主要為砂漿、鋼線,其中砂漿成本占整個硅片加工成本的60%。對于廢砂漿處理,現大多由回收廠家對廢砂漿進行固液分離,即回收廢砂漿得到Sic和PEG,然后通過分級、篩選、清洗等工藝得到回收砂和回收液。
為了得到能滿足切割的砂漿,硅片切割廠家均會把新舊砂和新舊液按照一定比例進行混合,但現階段新砂、新液的價格仍居高不下,對于加工成本有著巨大壓力。目前,有部分回收砂漿的公司,通過離心、過濾、洗滌等一系列的手段對廢砂漿進行處理,最終得到可直接用于硅片切割的回收砂漿,此回收過程環保、便捷,且產品價格合理,但如何保證該回收砂漿在使用中不出現質量問題,這又是一大難題。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:提供一種回收砂漿質量的判斷方法,有效控制回收砂漿的質量。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種回收砂漿質量的判斷方法,對砂漿的三項指標進行檢測,分別是砂漿中Sic的D50值、砂漿中Sic的圓度系數以及小于3.5μm的微粉的含量,
要求砂漿中Sic的D50值的范圍:10.1μm~10.9μm;
砂漿中Sic的圓度系數的范圍:0.912~0.930;
小于3.5μm的微粉的含量:4.5%以下;
如果該三項指標均在要求范圍內,則判斷砂漿質量合格。
優化地,要求砂漿中Sic的D50值的范圍:9.5μm~10.3μm;砂漿中Sic的圓度系數的范圍:0.915~0.927;小于3.5μm的微粉的含量:3.5%以下。
本發明的有益效果是:對于回收廠家通過處理得到的可直接用于硅片切割的回收砂漿的質量可以進行準確判斷,有效控制回收砂漿的質量,避免在硅片切割中因砂漿因素導致出現質量異常,降低線痕、厚薄及TTV的不良的比例。使得因回收砂漿質量引起的硅片合格率波動值降低了2%~5%。
具體實施方式
實施例1:回收砂漿使用前,對砂漿進行檢測,要求砂漿中Sic的D50值的范圍:10.1~10.9μm,砂漿中Sic的圓度系數的范圍:0.912~0.930,微粉含量(即小于3.5μm的微粉,其中以硅粉為主,還含有微量的Sic碎粉、Fe粉、Cu粉等):4.5%以下。如果該三項指標均在要求范圍內,則判斷砂漿質量合格,可以使用。
回收砂漿1:三項指標均在要求范圍內;
回收砂漿2:有一項指標(D50)不符合要求;
回收砂漿3:三項指標均不符合要求;
實施例1的實驗效果如下:
檢測數據如下表:
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