[發明專利]快速鑒別太陽能級UMG硅片的方法無效
| 申請號： | 201210041868.7 | 申請日： | 2012-02-23 |
| 公開（公告）號： | CN102590158A | 公開（公告）日： | 2012-07-18 |
| 發明（設計）人： | 張馳;熊震;付少永 | 申請（專利權）人： | 常州天合光能有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/63 | 分類號： | G01N21/63;G01N21/64 |
| 代理公司： | 常州市維益專利事務所 32211 | 代理人： | 王凌霄 |
| 地址： | 213031 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 快速 鑒別 太陽 能級 umg 硅片 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種快速鑒別太陽能級UMG硅片的方法，其特征是：包括下列步驟：
第一步、選取硅片；
第二步、檢測：利用具有光致熒光或光致發光測試功能的設備進行測試，要求：曝光時間：1～30s，光注入濃度：5.41E16個/cm2～3.06E17個/cm2；
第三步、數據分析；
第四步、判定：所測試硅片圖樣的平均亮度值大于180時為太陽能級UMG硅片，小于180時為普通多晶硅硅片。
2.根據權利要求1所述的快速鑒別太陽能級UMG硅片的方法，其特征是：步驟二中，測試區域：以裸硅片中心點為原點，對稱選擇測試區域，面積為整張硅片的60％；步驟三中，利用柱狀圖、折線圖、散點圖等多種制圖方法中的一種分析測試結果。
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