[發明專利]用于超導交流電壓標準的低熱電勢測試探桿

無效

• 申請號: 201210040027.4
• 申請日: 2012-02-20
• 公開（公告）號: CN102590568A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 朱珠;康焱
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R1/06
• 分類號: G01R1/06;G01R19/04
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 王德楨

1.一種用于超導交流電壓標準的低熱電勢測試探桿，其特征在于：所述測試探桿包括轉接頭、測量轉接盒、連接桿和屏蔽筒，所述轉接頭固定設置于所述測量轉接盒的一端，所述測量轉接盒的另一端與所述連接桿的上端部固接在一起，所述屏蔽筒與所述連接桿的下端部固定連接在一起；?

所述屏蔽筒內設置有超導陣列結，所述連接桿內設有連接引線，所述的連接引線包括同軸電纜A和同軸電纜B；

所述同軸電纜A上端頭的線芯與所述測量轉接盒內的電壓輸出接口低端相連接，所述同軸電纜A下端頭的線芯與所述超導陣列結電壓輸出高端相連接，該同軸電纜A下端頭的屏蔽層與所述超導陣列結電壓輸出低端相連接；

所述同軸電纜B上端頭的線芯與所述測量轉接盒內的電壓輸出接口高端相連接，所述同軸電纜B下端頭的線芯與該同軸電纜B下端頭的屏蔽層短接；

所述同軸電纜A上端頭的屏蔽層與所述同軸電纜B上端頭的屏蔽層短接在一起。

2.根據權利要求1所述的用于超導交流電壓標準的低熱電勢測試探桿，其特征在于：所述的轉接頭為微波轉接頭。

3.根據權利要求1或2所述的用于超導交流電壓標準的低熱電勢測試探桿，其特征在于：所述的同軸電纜A和同軸電纜B均采用低溫同軸電纜，該低溫同軸電纜的工作溫度范圍為10mK～400K。

4.根據權利要求3所述的用于超導交流電壓標準的低熱電勢測試探桿，其特征在于：所述同軸電纜A的屏蔽層材質和同軸電纜B屏蔽層材質均為銅鍍銀。

5.根據權利要求4所述的用于超導交流電壓標準的低熱電勢測試探桿，其特征在于：所述同軸電纜A的線芯直徑為0.2033mm，屏蔽層厚度為0.203mm；所述同軸電纜B的線芯直徑為0.2033mm，屏蔽層厚度為0.203mm。