[發明專利]高壓下透明流體折射率測量裝置

有效

• 申請號: 201210038182.2
• 申請日: 2012-02-21
• 公開（公告）號: CN102590139A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 陳其峰;顧云軍;孫志紅;鄭軍;陳志云;陳玉雷
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述測量裝置中的光源（2）輸出光束經過凹面鏡（3）變成平行光，平行光束依次經過反射鏡（1）和取樣鏡（4）后垂直入射到窗口Ⅰ（8），再經過放置在密封機構（10）的被測流體（9）和窗口Ⅱ（11）后垂直入射到光譜儀（12）入口；窗口Ⅰ（8）與窗口Ⅱ（11）的表面平行設置，由取樣鏡（4）反射的平行光束通過功率監視儀（5）對輸出的平行光束功率進行監視測量，盛裝被測流體（9）的密封機構（10）通過熱電耦（6）測量溫度，通過恒溫箱（7）保持實驗中被測流體（9）溫度恒定，開關Ⅰ（15）用于控制氣體（14）的注入，以增加密封機構（10）內流體壓強，開關Ⅱ（18）用于控制真空泵（19）工作，以減少密封機構（10）內被測流體（9）壓強，被測流體（9）的壓強通過壓力測量儀（17）測量。

2.根據權利要求1所述的高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述的光源（2）為寬帶光源。

3.根據權利要求2所述的高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述的寬帶光源為輸出功率連續可調、穩定度小于0.01%的溴鎢燈。

4.根據權利要求1所述的高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述的密封機構（10）中的被測流體（9）的厚度為1~2mm。

5.根據權利要求1所述的高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述的窗口Ⅰ（8）與窗口Ⅱ（11）的表面平行度小于1°，窗口Ⅰ（8）的前后兩個表面和窗口Ⅱ（11）的前后表面面型小于λ/4，λ=632.8nm。

6.根據權利要求1所述的高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述的光譜儀（12）強度穩定性小于0.01%。

7.根據權利要求1所述的高壓下透明流體折射率測量裝置，其特征是：所述的密封機構（10）內壁為黑色。