[發明專利]232U的測定方法

有效

• 申請號: 201210035832.8
• 申請日: 2012-02-17
• 公開（公告）號: CN103257147A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: 王琛;趙永剛;李力力;朱留超;趙興紅;常志遠
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01N27/62
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.²³²U的測定方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

(1)將鈾樣品制成α源；

(2)使用α譜儀測量鈾樣品α源的α能譜，得到²³⁴U、²³⁵U、²³⁶U和²³⁸U的總計數N_Z以及²³²U的α計數；

(3)將鈾樣品溶解后放入質譜儀中分析²³⁴U、²³⁵U、²³⁶U和²³⁸U占鈾元素的原子百分比；

(4)根據公式

m232mU=(N5.3-0.3767·N5.42)·ΣiMi·ni%·αiα232·Nz·ΣiMi·ni%,(i=234,235,236,238)]]>

計算出鈾樣品中²³²U的含量。

2.根據權利要求1所述的²³²U的測定方法，其特征在于，所述的步驟(1)中的鈾樣品，是先用硝酸溶解后再制備成α源。

3.根據權利要求1所述的²³²U的測定方法，其特征在于，所述的步驟(1)中制備α源的方法為電鍍，且電鍍時所用電沉積液的PH值為1.0～2.0。

4.根據權利要求1所述的232U的測定方法，其特征在于，所述的步驟(1)中電鍍制源的電鍍時間為3～5小時。

5.根據權利要求1所述的²³²U的測定方法，其特征在于，所述的步驟(2)中α譜儀的測量時間為22～26小時。

6.根據權利要求1所述的²³²U的測定方法，其特征在于，所述的步驟(3)中所用的質譜儀為多接受電感耦合等離子體質譜儀。