[發明專利]一種柔性不銹鋼襯底上CIGS吸收層制備方法無效
| 申請號: | 201210035817.3 | 申請日: | 2012-02-17 |
| 公開(公告)號: | CN103258899A | 公開(公告)日: | 2013-08-21 |
| 發明(設計)人: | 馬格林;張建柱;孫玉娣;彭博 | 申請(專利權)人: | 任丘市永基光電太陽能有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;C23C14/16;C23C14/34;C23C14/35;C23C14/24;C23C14/06 |
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| 地址: | 062550 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 柔性 不銹鋼 襯底 cigs 吸收 制備 方法 | ||
1.一種柔性不銹鋼襯底上CIGS吸收的層制備方法,其特征在于,其包括:在清洗后的不銹鋼襯底上,濺射沉積30nm厚的Ti膜層,隨后在其上沉積Mo層將Cu、Ga、Se蒸發沉積在Mo層上,形成CuGaSe2層,以增強Mo/CIGS層間的粘附性能,同時形成Ga梯度。
將In、Ga、Se蒸發沉積在CuGaSe2層上,形成(In1-xGax)3Se5預制層。
將Cu、和Se蒸發沉積在(In1-xGax)3Se5預制層上,形成富銅Cu(InGa)Se2和二次相CuxSe,Br2水溶液刻蝕二次相CuxSe,再將In、Se蒸發沉積在刻蝕后的Cu(InGa)Se2表面,形成貧銅富銦的In2Se3層,對表面形成In2Se3層的樣品進行退火處理。
在In2Se3層上蒸發沉積Na2S預置層,再對樣品進行高溫退火處理。
2.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:在Ar氣下,在甲苯、丙酮和異丙醇依次超聲清洗后的不銹鋼襯底上,磁控濺射沉積30nm的Ti層,接著在Ti層表面濺射沉積Mo層。
3.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:在380℃的Mo層表面共蒸發沉積Cu、Ga、Se,形成厚0.2μm,[Cu]/[Ga]=1.55的CuGaSe2膜層。蒸發沉積期間,Cu源的蒸發溫度固定在1070℃,Se源的蒸發溫度固定在185℃,Ga源的蒸發溫度固定在890℃。
4.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:在Se氣氛中,1-2min內將襯底從380℃升高至400℃,在此溫度下,共蒸發In、Ga、Se源16min,使In、Ga、Se在CuGaSe2膜層表面形成1.6μm、[Ga]/[In+Ga]~0.43的(InGa)3Se5預置層。(InGa)3Se5預制層沉積期間,In源的蒸發溫度固定在930℃,Ga源的蒸發溫度固定在1100℃,In源的蒸發溫度固定在215℃;In的蒸發沉積速率為/sec,Ga的蒸發沉積速率為/sec,Se的蒸發沉積速率為/sec。
5.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:關閉Ga源,使Ga蒸發速率降低為零后關閉In源。直至In蒸發沉積速率降低為零后,再在Se氣氛中,7min內將襯底從400℃升高至590℃。
6.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:將Cu、Se共蒸發沉積在590℃的(InGa)3Se5預制層表面,在20min內形成1.8μm、Cu]/[In+Ga]max=1.25的富銅化學計量比的Cu(InGa)Se2和二次相CuxSe。Cu(InGa)Se2和CuxSe沉積期間,Cu源的蒸發溫度固定在1300℃,Cu的蒸發沉積速率為/sec。
7.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:關閉Cu源,使樣品在Se氣氛中,590℃下退火2min后關閉襯底加熱裝置,在使襯底溫度從590℃降低到300℃時關閉Se源。
8.根據權利要求1所述的CIGS吸收層的沉積方法,其特征在于:室溫下,用加有濃度為0.12mol/L的KBr溶液的0.23mol/L的Br2水溶液刻蝕CIGS表面8min。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





