[發(fā)明專利]渦流探測(cè)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210035773.4 | 申請(qǐng)日： | 2012-02-16 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN102680567A | 公開(kāi)（公告）日： | 2012-09-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | B·勒帕格 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 奧林巴斯NDT公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N27/90 | 分類號(hào)： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼： | 美國(guó);US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 渦流 探測(cè)器 | ||
1.一種渦流探測(cè)器，包括：
印刷電路板；
第一線圈組件，其包括形成在所述印刷電路板上的測(cè)試線圈；以及
第二線圈組件，其包括形成在所述印刷電路板上的有源屏蔽線圈，
其中，所述測(cè)試線圈和所述有源屏蔽線圈同心布置，
并且，所述有源屏蔽線圈中的線圈繞組被設(shè)置為，將在正對(duì)著所述渦流探測(cè)器而放置的測(cè)試對(duì)象內(nèi)所感生的場(chǎng)或?qū)υ谒鰷y(cè)試對(duì)象中的渦流場(chǎng)的檢測(cè)限制為與所述測(cè)試線圈延伸在所述測(cè)試對(duì)象上的區(qū)域基本同延的區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述測(cè)試線圈和所述屏蔽線圈分別由單個(gè)繞組構(gòu)成，并且所述屏蔽線圈的卷繞方向與所述測(cè)試線圈的卷繞方向相反。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述第一線圈組件被配置為作為驅(qū)動(dòng)器線圈工作，所述驅(qū)動(dòng)器線圈在所述測(cè)試對(duì)象中感生渦流。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述第一線圈組件被配置為作為渦流接收器線圈工作，所述渦流接收器線圈被設(shè)計(jì)為感測(cè)在所述測(cè)試對(duì)象中流動(dòng)的渦流。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，包括第一線圈組和第二線圈組，其中，
所述第一線圈組和所述第二線圈組位于所述印刷電路板的不同層，
所述第一線圈組包括所述測(cè)試線圈和所述屏蔽線圈，所述第二線圈組包括附加測(cè)試線圈和附加屏蔽線圈，并且
所述第一線圈組和所述第二線圈組在特定區(qū)域相互重疊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述屏蔽線圈包圍所述測(cè)試線圈。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述屏蔽線圈位于所述測(cè)試線圈內(nèi)部。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述測(cè)試線圈和所述屏蔽線圈通常具有環(huán)形結(jié)構(gòu)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述測(cè)試線圈和所述屏蔽線圈通常具有矩形結(jié)構(gòu)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述渦流探測(cè)器至少包括兩個(gè)同心布置的探測(cè)器系統(tǒng)，其中，
第一探測(cè)器系統(tǒng)包括所述測(cè)試線圈和包圍所述測(cè)試線圈的所述屏蔽線圈，
第二探測(cè)器系統(tǒng)被布置在所述第一探測(cè)器系統(tǒng)周圍，并包括包含第二測(cè)試線圈和第二屏蔽線圈的外線圈組。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述第二測(cè)試線圈包圍所述第二屏蔽線圈。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，包括各自包含測(cè)試線圈和相關(guān)聯(lián)的屏蔽線圈的多個(gè)線圈組，并且所述渦流探測(cè)器被配置為陣列型探測(cè)器。
13.根據(jù)權(quán)利要求2所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述屏蔽線圈中繞組的匝數(shù)使得能有效地限制所感生的場(chǎng)或?qū)u流場(chǎng)的檢測(cè)。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述渦流探測(cè)器至少包括第一探測(cè)器系統(tǒng)和第二探測(cè)器系統(tǒng)，其中
所述第一探測(cè)器系統(tǒng)包括所述測(cè)試線圈和所述有源屏蔽線圈，
所述第二探測(cè)器系統(tǒng)包括第二測(cè)試線圈和第二屏蔽線圈，
所述第一探測(cè)器系統(tǒng)和所述第二探測(cè)器系統(tǒng)位于所述印刷電路板的不同層上并被布置為相互部分重疊，以在所述第一探測(cè)器系統(tǒng)和所述第二探測(cè)器系統(tǒng)重疊的部分處產(chǎn)生對(duì)場(chǎng)檢測(cè)更敏感的區(qū)域。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，利用具有預(yù)定波形的驅(qū)動(dòng)信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試線圈，以及利用相對(duì)于所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)存在180°相位差的信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述有源屏蔽線圈。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述渦流探測(cè)器能夠在從接近0至25MHz的頻率下工作。
17.根據(jù)權(quán)利要求5所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述第一線圈組被配置作為驅(qū)動(dòng)器線圈，以及所述第二線圈組被配置作為接收器線圈。
18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述渦流探測(cè)器被配置作為遠(yuǎn)場(chǎng)裝置。
19.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述渦流探測(cè)器被配置作為磁通泄露檢測(cè)裝置。
20.根據(jù)權(quán)利要求1所述的渦流探測(cè)器，其特征在于，所述印刷電路板被形成為具有柔性，以使得所述印刷電路板的形狀能夠適應(yīng)所述測(cè)試對(duì)象的表面形狀。
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