[發明專利]局部定位系統中的一種加權三邊測量方法

有效

• 申請號: 201210035206.9
• 申請日: 2012-02-16
• 公開（公告）號: CN102540140A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 魏斌;虞致國;黃召軍;陳子逢;萬書芹
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十八研究所
• 主分類號: G01S5/00
• 分類號: G01S5/00;H04B17/00
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所 32104
• 代理人: 殷紅梅

1.局部定位系統中的一種加權三邊測量方法，其特征是，包括以下步驟：

步驟1、通過實測和曲線擬合的方式建立RSSI或LQI值對應的距離曲線，測試獲得距離曲線在各個距離平均測距誤差，并且采用誤差的百分比的倒數做為權值；

步驟2、采集局部定位系統中的RSSI或LQI數據，選取RSSI或LQI最大的值來進行測距，即選取三個信號最強的點作為參考節點；

步驟3、采用步驟1中擬合的曲線來計算出RSSI或LQI對應的距離；

步驟4、采用步驟3獲得的距離來進行三邊定位，采用三邊測量法求解，進行三邊定位時如果兩圓沒有交點，則采用步驟1獲得的各個距離的對應的權值來計算出交點位置；

步驟5、計算三邊定位所獲得三點的重心，即為待測節點的位置。

2.如權利要求1所述的局部定位系統中的一種加權三邊測量方法，其特征是，所述進行三邊定位的方法為：已知3個最大RSSI或LQI值對應參考節點的坐標，并計算出待測節點到3個參考節點的距離后，以3個參考節點坐標為圓心，各自到待測節點的距離為半徑，畫3個圓，需要分3次分別求其中任意兩圓的交點；設其中兩圓為A、B，對應的半徑為r1、r2；兩圓圓心為(x₁，y₁)，(x₂，y₂)；θ為圓心到兩圓交點的直線與橫坐標軸的夾角角度；兩圓的交點(x，y)如下：

3)當有2個交點時

(Y-y1)÷(X-x1)=(y2-y1)÷(x2-x1)(X-x2)2+(Y-y2)2=(r2)2]]>

4)當只有1個交點時

Y=r1sinθ+y1X=r1cosθ+x1(X-x2)2+(Y-y2)2=(r2)2]]>

3)當沒有交點時，則利用分析平均測距誤差得到的權值來獲得交點的位置；首先，連接兩圓A、B的圓心，交點的位置采用加權的方式在兩圓的連線上選?。患訖嗨惴ǖ贸龅慕稽c位置到圓A和B的距離比是r₂∶r₁。