[發明專利]溫度成像方法及系統

無效

• 申請號: 201210035199.2
• 申請日: 2012-02-16
• 公開（公告）號: CN102579015A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 何夢玥;鄒超;鐘耀祖;饒芳;劉新;鄭海榮
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: A61B5/01
• 分類號: A61B5/01;A61B5/055
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種溫度成像方法，包括如下步驟：

獲取卷繞相位圖像；

對所述卷繞相位圖像進行差分得到相位差分圖；

從所述卷繞相位圖像中提取測量區域的原始相位，并根據所述原始相位和相位差分圖得到參考相位；

根據所述原始相位和參考相位之間的復數差得到測量區域的溫度圖像。

2.根據權利要求1所述的溫度成像方法，其特征在于，所述對所述卷繞相位圖像進行差分得到相位差分圖的步驟為：

獲取卷繞相位圖像中相位的多項式模型；

將所述多項式模型進行差分替代得到相位差分圖。

3.根據權利要求2所述的溫度成像方法，其特征在于，所述將所述多項式模型進行差分替代得到相位差分圖的步驟為：

按照卷繞相位圖像的坐標軸方向分別對多項式模型進行差分處理得到與坐標軸方向相對應的相位差分圖。

4.根據權利要求3所述的溫度成像方法，其特征在于，所述根據所述原始相位和相位差分圖得到參考相位的步驟為：

通過所述與坐標軸方向相對應的相位差分圖進行多項式擬合構造系數模型；

通過相位差分圖的數值積分恢復出測量區域的相位圖；

根據所述相位圖和原始相位得到零階多項式系數，并通過所述系數模型和零階多項式系數計算得到參考相位。

5.根據權利要求4所述的溫度成像方法，其特征在于，所述通過所述與坐標軸方向相對應的相位差分圖進行多項式擬合構造系數模型的步驟包括：

在所述與坐標軸方向相對應的相位差分圖提取參考區域的數據以及相位，并通過最小二乘法進行擬合得到與坐標軸對應的多項式系數；

將所述與坐標軸對應的多項式系數構造成系數模型。

6.一種溫度成像系統，其特征在于，包括：

圖像獲取模塊，用于獲取卷繞相位圖像；

處理模塊，用于對所述卷繞相位圖像進行差分得到相位差分圖；

運算模塊，用于從卷繞相位圖像中提取測量區域的原始相位，并根據所述原始相位和相位差分圖得到參考相位；

成像模塊，用于根據所述原始相位和參考相位之間的復數差得到測量區域的溫度圖像。

7.根據權利要求6所述的溫度成像系統，其特征在于，所述處理模塊包括：

多項式獲取單元，用于獲取卷繞相位圖像中相位的多項式模型；

差分替代單元，用于將所述多項式模型進行差分替代得到相位差分圖。

8.根據權利7所述的溫度成像系統，其特征在于，所述差分替代單元還用于按照卷繞相位圖像的坐標軸方向分別對多項式模型進行差分處理得到與坐標軸方向相對應的相位差分圖。

9.根據權利要求8所述的溫度成像系統，其特征在于，所述運算模塊包括：

提取單元，用于從卷繞相位圖像中提取測量區域的原始相位；

擬合單元，用于通過所述與坐標軸方向相對應的相位差分圖進行多項式擬合構造系數模型；

圖像恢復單元，用于通過相位差分圖的數值積分恢復出測量區域的相位圖；

相位計算單元，用于根據所述相位圖和原始相位可得到零階多項式系數，并通過所述系數模型和零階多項式系數計算得到參考相位。

10.根據權利要求9所述的溫度成像系統，其特征在于，所述擬合單元還用于在所述與坐標軸方向相對應的相位差分圖提取參考區域的數據以及相位，并通過最小二乘法進行擬合得到與坐標軸對應的多項式系數，將所述與坐標軸對應的多項式系數構造成系數模型。