[發(fā)明專利]多點(diǎn)觸屏自動測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210034778.5
• 申請日: 2012-02-16
• 公開（公告）號: CN103257300A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 任光明
• 申請（專利權(quán)）人: 神訊電腦（昆山）有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，所述多點(diǎn)觸屏包括分布于網(wǎng)格矩陣各邊緣的若干個(gè)信號觸點(diǎn)以及與各該信號觸點(diǎn)一一對應(yīng)的若干個(gè)觸屏引腳，其特征在于，該測試裝置包括：

測試轉(zhuǎn)接頭，其一端包括與所述若干個(gè)觸屏引腳對應(yīng)的第一引腳，其另一端包括若干個(gè)第二引腳，各所述第一引腳對應(yīng)于一第二引腳；

測試電路，其包括若干個(gè)分支電路，各該分支電路包括第一、第二信號接入點(diǎn)，各所述信號接入點(diǎn)分別一一對應(yīng)于所述測試轉(zhuǎn)接頭的第二引腳，各所述分支電路測試位置相對的信號觸點(diǎn)間是否斷開。

2.如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述信號轉(zhuǎn)接頭與所述測試電路整合為一體。

3.如權(quán)利要求1所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述信號轉(zhuǎn)接頭與所述測試電路為相互獨(dú)立的元件。

4.如權(quán)利要求2或3所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述分支電路還包括判斷支路和顯示支路；所述判斷支路的輸入端為所述第一、第二信號接入點(diǎn)，輸出端輸出致能信號；所述顯示支路接收所述致能信號而顯示測試結(jié)果。

5.如權(quán)利要求4所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述判斷支路包括電源、第一電阻、第二電阻、第三電阻、N-MOS管；所述第一電阻一端接所述電源，所述第一電阻另一端接所述第二電阻的一端，所述第二電阻另一端接地，所述第一電阻與所述第二電阻間接入所述第一信號接入點(diǎn)，所述第二電阻與地間接入所述第二信號接入點(diǎn)；所述第三電阻一端接所述電源，所述第三電阻的另一端接所述N-MOS管的漏極，所述N-MOS管的柵極接于所述第二信號接入點(diǎn)與地之間，所述N-MOS管的源極接地。

6.如權(quán)利要求5所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述第一電阻阻值為1000歐姆，所述第二電阻阻值為5000～10000歐姆，所述第三電阻的阻值為1000歐姆；

7.如權(quán)利要求4所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述顯示支路包括發(fā)光二極管、第四電阻，所述第四電阻一端接電源，另一端接所述發(fā)光二極管的正極，所述發(fā)光二極管的負(fù)極接所述N-MOS管的漏極。

8.如權(quán)利要求7所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述第四電阻阻值為100歐姆。

9.如權(quán)利要求5所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述第二信號接入點(diǎn)與地之間還接有第五電阻。

10.如權(quán)利要求9所述的多點(diǎn)觸屏自動測試裝置，其特征在于，所述第五電阻阻值為十萬歐姆。