[發明專利]用于預付費電能表的IC測試卡

有效

• 申請號: 201210033036.0
• 申請日: 2010-08-05
• 公開（公告）號: CN102693586A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發明（設計）人: 鄭堅江;劉德強;傅寅杰
• 申請（專利權）人: 寧波三星電氣股份有限公司
• 主分類號: G07F15/06
• 分類號: G07F15/06
• 代理公司: 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228
• 代理人: 代忠炯

本申請為申請號201010249000.7、申請日2010年8月5日、發明名稱“用于預付費電能表的IC測試卡及其使用方法”的分案申請。

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技術領域

本發明涉及電能表技術領域，具體講是一種用于預付費電能表的IC測試卡。

背景技術：

預付費電能表又叫做定量電能表、IC卡電能表，用戶先買電，買電后才能用電，若用完電后用戶不繼續買電，則自動切斷電源停止供電。預付費電能表一般是寫卡式的，包括電源模塊、計量模塊、采樣模塊、數據處理模塊、數據存儲模塊。即將預購電量或金額寫入專用電子卡（存儲器）中，用戶持電子卡到對應電表上進行通訊，預購值自動送入電表中。?電子卡或稱IC卡，也稱購電卡,都是由專用的IC芯片經過特殊封裝后而成，常見購電卡按通訊方式分為接觸式和非接觸式。在預付費電能表出廠前，往往需要采用IC測試卡對其進行測試，以確保電能表的正常使用。現有技術的IC測試卡一般只帶有一張SIM卡，將IC測試卡插入預付費電能表的插槽中，SIM卡直接與電能表接觸并進行信號傳輸。采用以上現有技術，由于需要測試不同的SIM卡，所以需要不停地拔出測試卡，并更換測試卡，更換后的IC測試卡帶有新的SIM卡，反復更換和拔插IC測試卡的方式測試效率低，而且SIM卡直接與電能表接觸進行測試容易損壞SIM卡。

發明內容：

本發明要解決的技術問題，是提供一種測試效率高、不易損壞的用于預付費電能表的IC測試卡。

本發明的技術解決方案是，提供以下結構的用于預付費電能表的IC測試卡，它包括主面板、IC母卡本體、多個用于插接SIM卡的卡槽和控制開關，所述的IC母卡本體、卡槽均固定在主面板上，所述的多個卡槽與IC母卡本體電連接，所述的控制開關與IC母卡本體和卡槽電連接。

作為改進，所述的控制開關包括輕觸開關，所述的輕觸開關和卡槽個數相等并一一對應。這樣，通過在測試時，根據需要測試的SIM卡，按下對應的控制開關，來實現待測試的不同SIM卡之間的切換，控制更加方便。

作為改進，所述的控制開關還包括自鎖開關和能實現輕觸開關與自鎖開關相互切換的切換開關，所述的自鎖開關和切換開關與IC母卡本體和卡槽電連接。在測試中，有時只需要對SIM卡Ⅰ進行測試，此時就可以按下切換開關，IC測試卡就由控制開關控制切換到自鎖開關控制，切換到控制開關后，就默認IC母卡本體只與SIM卡Ⅰ有信號傳輸，也就是只能測試SIM卡Ⅰ，當按下自鎖開關后，IC母卡本體只與SIM卡Ⅱ有信號傳輸，也就是說此時只能測試SIM卡Ⅱ。增加了自鎖開關和切換開關，測試更加方面。

采用以上結構后與現有技術相比，本發明具有以下優點：采用本發明，一張IC測試卡集成了至少兩張SIM卡，在測試時，通過開關切換控制來測試SIM卡，即IC測試卡一次插入預付費電能表就可以測試至少兩張SIM卡，測試效率高，而且SIM卡通過IC母卡本體與電能表進行信號傳輸，并不直接與電能表接觸，防止了在測試中損壞SIM卡的情況。

附圖說明：

圖1為本發明的用于預付費電能表的IC測試卡的結構示意圖。

圖2為本發明的用于預付費電能表的IC測試卡的使用方法的流程框圖。

圖中所示：1、主面板，2、IC母卡本體，3、卡槽，4、輕觸開關，5、自鎖開關，6、切換開關。

具體實施方式：

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步說明：

如圖1所示，本發明的用于預付費電能表的IC測試卡，它包括主面板1、IC母卡本體2、多個用于插接SIM卡的卡槽3和控制開關，所述的IC母卡本體2、卡槽3均固定在主面板1上，所述的多個卡槽3與IC母卡本體2電連接，所述的控制開關與IC母卡本體2和卡槽3電連接；所述的多個是指兩個或兩個以上。

所述的控制開關包括輕觸開關4，所述的輕觸開關4和卡槽3個數相等并一一對應。每個卡槽3對應一個輕觸開關4，也就是說一個輕觸開關4控制一個對應的SIM卡，在測試時，根據需要測試的SIM卡，按下對應的輕觸開關4，來實現待測試的不同SIM卡之間的切換，控制更加方便；所述的按下是為了描述的方便，根據開關的不同性質，操作的方式就有所不同，如旋轉、扳上、拔出等等。