[發明專利]一種用于降低擇優取向效應的粉末衍射制樣方法無效
| 申請號： | 201210032986.1 | 申請日： | 2012-02-15 |
| 公開（公告）號： | CN102564828A | 公開（公告）日： | 2012-07-11 |
| 發明（設計）人： | 不公告發明人 | 申請（專利權）人： | 江西理工大學 |
| 主分類號： | G01N1/28 | 分類號： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 341000 江*** | 國省代碼： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 降低 擇優取向 效應 粉末 衍射 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種粉末衍射實驗用制樣方法，其特征在于利用粉末自身重量撒落在一個平整的粘性表面，從而獲得在粘性表面分布與取向均勻的粉末樣品。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對利用此方法獲得的樣品進行衍射實驗，多次實驗獲得的譜線的衍射峰峰強度、峰形和位置基本重合，誤差不超過5%。
3.權利要求1-2中任意一項所述的方法制備的樣品在定量相分析、晶胞常數、晶體結構測定中的應用。
4.根據權利3所述的應用，其特征在于，結合Rietveld精修，消除了非球狀粉末樣品的擇優取向效應。
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