[發明專利]一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法

有效

• 申請號: 201210032485.3
• 申請日: 2012-02-14
• 公開（公告）號: CN102590328A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 吳德會;孫寶康;張海榮;張志杰
• 申請（專利權）人: 廈門大學
• 主分類號: G01N27/83
• 分類號: G01N27/83
• 代理公司: 廈門南強之路專利事務所 35200
• 代理人: 馬應森

1.一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

1)將磁化器置于待測鐵磁體表面，并按設定的提離值對待測鐵磁體進行掃描檢測，所述磁化器由繞有激勵線圈的U型磁芯和永磁鐵組成；

2)往激勵線圈施加直流激勵信號，在永磁鐵和激勵線圈的共同作用下，將待測鐵磁體局部磁化至飽和狀態，這時在待測鐵磁體內、外表面的缺陷處將產生漏磁場；

3)利用檢測元件以設定的提離值對步驟2)所述漏磁場進行檢測，并將檢測到的漏磁場信號B₁與設定的閾值λ₁進行比較，以判斷待測鐵磁體是否存在缺陷，若B₁＜λ₁，說明待測鐵磁體不存在缺陷，則繼續步驟2)的檢測；若B₁＞λ₁，說明待測鐵磁體存在缺陷，則進行下一步驟的檢測；

4)退除直流激勵信號，往激勵線圈施加交流激勵信號，這時在永磁鐵和激勵線圈的共同作用下，磁化器將產生一交變磁化場，在交變磁化場的激勵下，待測鐵磁體內表面的缺陷處將激發出交變漏磁場，而待測鐵磁體外表面的缺陷處的磁場達不到飽和，即不會產生漏磁場；

5)用檢測元件對步驟4)所述漏磁場進行檢測，并對檢測到的交變漏磁場信號進行處理，得到漏磁場信號中交流部分頻率分量的幅值B₂，將B₂與設定的閾值λ₂進行比較，以判斷缺陷在待測鐵磁體的內表面還是外表面，若B₂＜λ₂，說明缺陷在待測部件的外表面，則繼續重復步驟2)的檢測；若B₂＞λ₂，說明缺陷在待測鐵磁體的內表面，則繼續重復步驟(4)的檢測。

2.如權利要求1所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟1)中，所述激勵線圈繞于U型磁芯兩側，并且兩側的激勵線圈匝數相等、纏繞方向相反。

3.如權利要求1所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟1)中，所述提離值為0.5～2mm。

4.如權利要求1所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟2)中，所述待測鐵磁體局部磁化至飽和狀態的80％。

5.如權利要求1所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟3)中，所述檢測元件采用霍爾元件。

6.如權利要求1所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟4)中，所述交流激勵信號的頻率為1～20KHz。

7.如權利要求1所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟5)中，所述交變漏磁場信號處理的具體方法為：

(1)利用數據采集電路對漏磁場信號進行采樣；

(2)運用時頻變換算法將采樣得到的時域信號轉化為頻域信號；

(3)求出頻譜信號中交流頻率相對應的幅值B₂。

8.如權利要求7所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟(1)中，所述數據采集電路采用數據采集卡。

9.如權利要求7所述的一種永磁與交直流復合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟(2)中，所述時頻變換算法采用快速傅里葉變換。