[發(fā)明專利]一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210032485.3
• 申請(qǐng)日: 2012-02-14
• 公開（公告）號(hào): CN102590328A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳德會(huì);孫寶康;張海榮;張志杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廈門大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N27/83
• 分類號(hào): G01N27/83
• 代理公司: 廈門南強(qiáng)之路專利事務(wù)所 35200
• 代理人: 馬應(yīng)森

1.一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

1)將磁化器置于待測鐵磁體表面，并按設(shè)定的提離值對(duì)待測鐵磁體進(jìn)行掃描檢測，所述磁化器由繞有激勵(lì)線圈的U型磁芯和永磁鐵組成；

2)往激勵(lì)線圈施加直流激勵(lì)信號(hào)，在永磁鐵和激勵(lì)線圈的共同作用下，將待測鐵磁體局部磁化至飽和狀態(tài)，這時(shí)在待測鐵磁體內(nèi)、外表面的缺陷處將產(chǎn)生漏磁場；

3)利用檢測元件以設(shè)定的提離值對(duì)步驟2)所述漏磁場進(jìn)行檢測，并將檢測到的漏磁場信號(hào)B₁與設(shè)定的閾值λ₁進(jìn)行比較，以判斷待測鐵磁體是否存在缺陷，若B₁＜λ₁，說明待測鐵磁體不存在缺陷，則繼續(xù)步驟2)的檢測；若B₁＞λ₁，說明待測鐵磁體存在缺陷，則進(jìn)行下一步驟的檢測；

4)退除直流激勵(lì)信號(hào)，往激勵(lì)線圈施加交流激勵(lì)信號(hào)，這時(shí)在永磁鐵和激勵(lì)線圈的共同作用下，磁化器將產(chǎn)生一交變磁化場，在交變磁化場的激勵(lì)下，待測鐵磁體內(nèi)表面的缺陷處將激發(fā)出交變漏磁場，而待測鐵磁體外表面的缺陷處的磁場達(dá)不到飽和，即不會(huì)產(chǎn)生漏磁場；

5)用檢測元件對(duì)步驟4)所述漏磁場進(jìn)行檢測，并對(duì)檢測到的交變漏磁場信號(hào)進(jìn)行處理，得到漏磁場信號(hào)中交流部分頻率分量的幅值B₂，將B₂與設(shè)定的閾值λ₂進(jìn)行比較，以判斷缺陷在待測鐵磁體的內(nèi)表面還是外表面，若B₂＜λ₂，說明缺陷在待測部件的外表面，則繼續(xù)重復(fù)步驟2)的檢測；若B₂＞λ₂，說明缺陷在待測鐵磁體的內(nèi)表面，則繼續(xù)重復(fù)步驟(4)的檢測。

2.如權(quán)利要求1所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟1)中，所述激勵(lì)線圈繞于U型磁芯兩側(cè)，并且兩側(cè)的激勵(lì)線圈匝數(shù)相等、纏繞方向相反。

3.如權(quán)利要求1所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟1)中，所述提離值為0.5～2mm。

4.如權(quán)利要求1所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟2)中，所述待測鐵磁體局部磁化至飽和狀態(tài)的80％。

5.如權(quán)利要求1所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟3)中，所述檢測元件采用霍爾元件。

6.如權(quán)利要求1所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟4)中，所述交流激勵(lì)信號(hào)的頻率為1～20KHz。

7.如權(quán)利要求1所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟5)中，所述交變漏磁場信號(hào)處理的具體方法為：

(1)利用數(shù)據(jù)采集電路對(duì)漏磁場信號(hào)進(jìn)行采樣；

(2)運(yùn)用時(shí)頻變換算法將采樣得到的時(shí)域信號(hào)轉(zhuǎn)化為頻域信號(hào)；

(3)求出頻譜信號(hào)中交流頻率相對(duì)應(yīng)的幅值B₂。

8.如權(quán)利要求7所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟(1)中，所述數(shù)據(jù)采集電路采用數(shù)據(jù)采集卡。

9.如權(quán)利要求7所述的一種永磁與交直流復(fù)合的漏磁檢測方法，其特征在于在步驟(2)中，所述時(shí)頻變換算法采用快速傅里葉變換。