[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于光子技術(shù)的微波信號(hào)類(lèi)型和頻率檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210032346.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-02-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102590668A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄒喜華;盧冰;潘煒 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 西南交通大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00;G01R23/02;H04B10/08 |
| 代理公司: | 成都信博專(zhuān)利代理有限責(zé)任公司 51200 | 代理人: | 張澎 |
| 地址: | 610031 四川省成都市*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 光子 技術(shù) 微波 信號(hào) 類(lèi)型 頻率 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種基于光子技術(shù)的微波信號(hào)類(lèi)型和頻率檢測(cè)方法,同時(shí)檢測(cè)出待測(cè)微波信號(hào)的類(lèi)型和載波頻率,其特征在于,待測(cè)微波信號(hào)可為脈沖型微波信號(hào)或連續(xù)型微波信號(hào);所述的待測(cè)微波信號(hào)加載到兩個(gè)不同波長(zhǎng)的連續(xù)激光信號(hào)上,然后分成含有相對(duì)時(shí)延的時(shí)延支路和不含相對(duì)時(shí)延的參考支路;在所述的時(shí)延支路,先在兩個(gè)光信號(hào)之間引入相對(duì)時(shí)延,經(jīng)光學(xué)混頻后,選取斯托克斯光或者反斯托克斯光進(jìn)行探測(cè);在所述的參考支路,兩個(gè)光信號(hào)直接進(jìn)行光學(xué)混頻,選取斯托克斯光或者反斯托克斯光進(jìn)行探測(cè);然后所述的時(shí)延支路、參考支路的輸出經(jīng)光電轉(zhuǎn)換后進(jìn)行電路處理,得到標(biāo)識(shí)信號(hào)類(lèi)型和表征載波頻率的兩個(gè)輸出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述之一種基于光子技術(shù)的微波信號(hào)類(lèi)型和頻率檢測(cè)方法,其特征在于,在所述的時(shí)延支路、參考支路中利用光濾波器完成斯托克光和反斯托克斯光的選取,然后以低速光探測(cè)器實(shí)施光電轉(zhuǎn)換:對(duì)應(yīng)于連續(xù)型微波信號(hào)獲得直流分量輸出;對(duì)應(yīng)于脈沖型微波信號(hào)獲得直流分量和低頻交流分量輸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述之一種基于光子技術(shù)的微波信號(hào)類(lèi)型和頻率檢測(cè)方法,其特征在于,在所述低速光探測(cè)器之后的電路處理中:無(wú)論是連續(xù)型還是脈沖型微波信號(hào),直流分量被提取出來(lái)做除法運(yùn)算,鑒別出與頻率相關(guān)的相位,獲得載波頻率值;低頻交流分量被提取出來(lái)做除法運(yùn)算,獲得信號(hào)類(lèi)型的標(biāo)識(shí):連續(xù)型信號(hào)時(shí)為低電平或者“0”,脈沖型信號(hào)時(shí)為高電平或者“1”。
4.一種實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1或2或3方法的基于光子技術(shù)的微波信號(hào)類(lèi)型和頻率檢測(cè)裝置,其特征在于,包含:兩個(gè)連續(xù)激光光源、加載待測(cè)微波信號(hào)的電光調(diào)制器,電光調(diào)制器的出口光路上設(shè)置含有相對(duì)時(shí)延的時(shí)延支路和不含相對(duì)時(shí)延的參考支路;在時(shí)延支路上設(shè)置有時(shí)延元件、摻鉺光纖放大器、光學(xué)混頻元件、光濾波器、低速光探測(cè)器;在參考支路上設(shè)置有摻鉺光纖放大器、光學(xué)混頻元件、光濾波器、低速光探測(cè)器;時(shí)延支路和參考支路的輸出與類(lèi)型分辨及頻率測(cè)量的電路模塊相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述之基于光子技術(shù)的微波信號(hào)類(lèi)型和頻率檢測(cè)裝置,其特征在于,時(shí)延支路中時(shí)延元件采用啁啾光柵或光柵串或光纖;所述時(shí)延支路和參考支路中,光學(xué)混頻元件均采用高非線(xiàn)性光纖或半導(dǎo)體光放大器。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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