[發明專利]一種基于金剛線切割的單晶硅片的濕法制絨方法有效
| 申請號: | 201210031456.5 | 申請日: | 2012-02-13 |
| 公開(公告)號: | CN102560685A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 余學功;陳林;楊德仁;路景剛 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | C30B33/10 | 分類號: | C30B33/10;C30B29/06 |
| 代理公司: | 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡紅娟 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 金剛 切割 單晶硅 濕法 方法 | ||
1.一種基于金剛線切割的單晶硅片的濕法制絨方法,其特征在于,包括:
(1)將所述的單晶硅片清洗、晾干,于60-80℃條件下在混合溶液中浸泡腐蝕20-400s,得預處理后的單晶硅片,所述的混合溶液由NaOH、異丙醇和去離子水組成,其中NaOH、異丙醇和去離子水的重量比為10-20∶0.8-12∶100-200;
(2)將所述的預處理后的單晶硅片清洗后進行濕法制絨。
2.根據權利要求1所述的濕法制絨方法,其特征在于,步驟(2)中所述的濕法制絨為:將清洗后的單晶硅片于76-82℃條件下在混合溶液中浸泡腐蝕10-30min,再在去離子水中沖洗即可,所述的混合溶液的組成為:以1-2kg的NaOH為基準,異丙醇的添加量為3-5L,制絨添加劑的添加量為100-500ml,去離子水的添加量為150L。
3.根據權利要求1所述的濕法制絨方法,其特征在于,步驟(1)中所述的混合溶液中NaOH、異丙醇和去離子水的重量比為10-15∶0.8-12∶100-200。
4.根據權利要求1所述的濕法制絨方法,其特征在于,步驟(1)中所述的混合溶液中NaOH、異丙醇和去離子水的重量比為10-20∶0.8-12∶80-160。
5.根據權利要求1所述的濕法制絨方法,其特征在于,步驟(1)中所述浸泡腐蝕的時間為20-200s。
6.根據權利要求1所述的濕法制絨方法,其特征在于,步驟(1)所述的單晶硅片在混合溶液中浸泡時的溫度為65-75℃。
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