[發明專利]一種測試用集成電路在審
| 申請號： | 201210030447.4 | 申請日： | 2012-02-10 |
| 公開（公告）號： | CN102543960A | 公開（公告）日： | 2012-07-04 |
| 發明（設計）人： | 何軍 | 申請（專利權）人： | 上海宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 鄭瑋 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 集成電路 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試用集成電路，位于晶片的切割道區，其特征在于：該測試用集成電路包括多組測試焊墊，其中，不同組測試焊墊交錯放置，每個測試焊墊組的測試焊墊的間距至少為探針的最小間距。
2.如權利要求1所述的測試用集成電路，其特征在于：不同組測試焊墊的測試焊墊之間為等間距。
3.如權利要求1所述的測試用集成電路，其特征在于：不同組測試焊墊的測試焊墊之間的間距至少為集成電路的最小安全距離。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海宏力半導體制造有限公司，未經上海宏力半導體制造有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210030447.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：金屬硅化物阻擋層的形成方法
- 下一篇：低電壓驅動普通手壓式滅火器開啟裝置
