[發明專利]高能量X射線異物檢測控制系統及方法

無效

• 申請號: 201210028833.X
• 申請日: 2012-02-09
• 公開（公告）號: CN102566487A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 孫軼;陸志文;吳家榮
• 申請（專利權）人: 上海高晶檢測科技股份有限公司
• 主分類號: G05B19/05
• 分類號: G05B19/05
• 代理公司: 上海光華專利事務所 31219
• 代理人: 李儀萍

1.一種高能量X射線異物檢測控制系統，其特征在于：所述高能量X射線異物檢測控制系統包括采用多線程操作模式的高速控制器、FPGA、用以實現網絡通信的網絡芯片，第一外部設備，第二外部設備；所述高速控制器分別與FPGA、網絡芯片和第一外部設備相連；所述FPGA與第二外部設備相連。

2.根據權利要求1所述的高能量X射線異物檢測控制系統，其特征在于：所述高速控制器為內核頻率最高達620MHz的ARM9控制器。

3.根據權利要求1所述的高能量X射線異物檢測控制系統，其特征在于：所述網絡芯片為100M以太網控制芯片。

4.根據權利要求1所述的高能量X射線異物檢測控制系統，其特征在于：所述第一外部設備包括需要ARM9控制器直接控制的SDRAM、或/和FLASH。

5.根據權利要求1所述的高能量X射線異物檢測控制系統，其特征在于：所述第二外部設備包括需要FPGA直接控制的高速A/D轉換器、或/和放大器、或/和繼電器、或/和時鐘電路、或/和報警電路、或/和串口通訊芯片、或/和I/O接口、或/和高能量X射線異物檢測設備。

6.一種權利要求1至5任意一項所述的高能量X射線異物檢測控制系統的檢測控制方法，其特征在于，所述檢測控制方法包括：ARM9控制器根據高能量X射線異物檢測系統所要完成的任務給出不同的控制指令，控制FPGA、網絡芯片和第一外部設備；同時ARM9控制器根據從FPGA、網絡芯片和第一外部設備得到的信息決定檢測控制系統的控制方向和高能量X射線異物檢測系統的具體執行指令。

7.根據權利要求6所述的高能量X射線異物檢測控制系統的檢測控制方法，其特征在于：所述FPGA根據ARM9控制器的指令向高能量X射線異物檢測設備發出屏幕顯示，同時FPGA還將高能量X射線異物檢測設備輸入的信息傳給ARM9控制器；ARM9控制器對高能量X射線異物檢測設備輸入的信息進行識別判斷，獲得判斷結果，并根據判斷結果啟動相應控制指令。

8.根據權利要求7所述的高能量X射線異物檢測控制系統的檢測控制方法，其特征在于：所述相應控制指令包括對FPGA、網絡芯片、第一外部設備、第二外部設備以及其他擴展連接設備發出的動作執行指令。

9.根據權利要求7所述的高能量X射線異物檢測控制系統的檢測控制方法，其特征在于：所述FPGA根據ARM9控制器的指令控制第二外部設備，第二外部設備完成相應的任務后將完成任務信息傳遞給FPGA，FPGA將所述完成任務信息經過預處理后傳遞給ARM9控制器。