[發明專利]透明薄膜微孔缺陷微電流檢測系統

有效

• 申請號: 201210028761.9
• 申請日: 2012-02-09
• 公開（公告）號: CN102539482A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 胡建明;譚波;張玉
• 申請（專利權）人: 重慶師范大學
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00
• 代理公司: 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129
• 代理人: 謝殿武

技術領域

本發明涉及一種用于產品質量檢測領域，特別涉及一種利用微電流探測技術檢測透明薄膜上微孔缺陷的檢測系統。

背景技術

薄膜作為電子設備的附屬部件，越來越多的得到應用。薄膜的生產工藝中，不可避免的會產生微笑的雜質微粒，會在薄膜上形成較為微小的微孔，因而，薄膜微孔缺陷檢測是檢查薄膜缺陷的基本項目。對于有色薄膜上存在微孔缺陷的檢測，通常是通過薄膜對光的吸收特性來檢測，即直接通過對光觀察即可實現檢測的目的，檢測方法比較簡單。而對于透明的薄膜，當存在微孔缺陷時，由于薄膜本身具有透明的特性，通過透光性則檢測實現較為困難，甚至無法實現，因而，現有技術中，透明薄膜的微孔缺陷檢測較為困難。

因此，需要一種用于透明薄膜微孔缺陷的檢測方式，能夠較為簡單準確的獲取透明薄膜的微孔缺陷，以保證透明薄膜的成品合格率。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的提供一種透明薄膜微孔缺陷微電流檢測系統，用于檢測薄膜，能夠較為簡單準確的獲取透明薄膜的微孔缺陷，以保證透明薄膜的成品合格率。

本發明的透明薄膜微孔缺陷微電流檢測系統，包括取樣組件和微電流電路；所述取樣組件包括硬質導電體I和硬質導電體II，被檢測薄膜位于所述硬質導電體I與硬質導電體II之間被緊密擠壓，所述硬質導電體I或/和硬質導電體II與被檢測薄膜接觸的表面設有柔性導電層；

所述微電流電路包括電源和電流檢測單元，所述硬質導電體I、硬質導電體II和電流檢測單元串聯于電源組成串聯電路。

進一步，還包括用于輸送被檢測薄膜的工件輸送裝置，所述硬質導電體I和硬質導電體II均為滾筒結構，所述柔性導電層位于硬質導電體I或/和硬質導電體II外圓表面；

進一步，所述工件輸送裝置為滾筒輸送裝置，包括卷膜滾筒和輸送滾筒，卷膜滾筒和輸送滾筒均設有用于驅動其轉動的輸送驅動電機，所述硬質導電體I或/和硬質導電體II設有用于驅動其轉動的同步驅動電機，所述硬質導電體I、硬質導電體II、卷膜滾筒和輸送滾筒的線速度相同；

進一步，還包括控制系統，所述控制系統包括：

速度采集單元，用于采集硬質導電體I、硬質導電體II、卷膜滾筒和輸送滾筒的線速度；

控制單元，用于采集電流檢測單元的電流信號和速度采集單元的速度信號，對滾筒輸送電機和同步驅動電機發出命令信號；

自動標記單元，與被檢測薄膜對應設置用于接收控制單元的控制信號并對被檢測薄膜的缺陷點進行標記；

進一步，所述柔性導電層位于硬質導電體I外圓表面；

進一步，所述柔性導電層為導電軟膠；

進一步，硬質導電體I設置同步驅動電機，所述硬質導電體II為隨動。

本發明的有益效果：本發明的透明薄膜微孔缺陷微電流檢測系統，利用柔性導電層的受壓變形特性，當被檢測薄膜出現微孔缺陷時，柔性導電層被擠入微孔，與另一導電體電接觸，實現導電，則會在回路中產生微電流，電流檢測單元產生電流顯示；而對于具有導電性質的薄膜，則會使電流產生變化，通過觀察或者采集回路中的電流狀況，能夠輕易獲得薄膜微孔缺陷，由此可見，本發明用于檢測薄膜，能夠較為簡單準確的獲取透明薄膜的微孔缺陷，以保證透明薄膜的成品合格率；當然，本系統雖然對透明薄膜具有較好的效果，同樣適用于不透光薄膜微孔缺陷的檢測，具有較高的效率，節約人力成本。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步描述。

圖1為本發明的結構原理示意圖；

圖2為微孔缺陷檢測原理圖。

具體實施方式

圖1為本發明的結構原理示意圖，圖2為微孔缺陷檢測原理圖，如圖所示：本實施例的透明薄膜微孔缺陷微電流檢測系統，包括取樣組件和微電流電路；所述取樣組件包括硬質導電體I?2和硬質導電體II?1，被檢測薄膜4位于所述硬質導電體I?2與硬質導電體II?1之間被緊密擠壓，所述硬質導電體I?2或/和硬質導電體II?1與被檢測薄膜接觸的表面設有柔性導電層3；柔性導電層3為具有一定的柔性及彈性的導電層，易發生變形并易于恢復常態；也就是柔性導電層3可以在硬質導電體I?2和硬質導電體II?1上均設置，也可以只設置其中之一，均能實現發明目的；

所述微電流電路包括電源7和電流檢測單元8，所述硬質導電體I?2、硬質導電體II?1和電流檢測單元8串聯于電源7組成串聯電路；電流檢測單元8可以是電流表、電壓表以及電流傳感器等等。