[發明專利]一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構

有效

• 申請號: 201210023471.5
• 申請日: 2012-02-02
• 公開（公告）號: CN102583216A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 王衛東;易成龍;郝躍;牛翔宇;紀翔
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: B81B3/00
• 分類號: B81B3/00;G01N3/02
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權

1.一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，包括一個框形支架(101)，其特征在于：所述框形支架(101)上通過至少四根對稱的上豎直梁(102)連接兩個相互對稱設置的上層平臺(104)；兩個上層平臺(104)的兩端分別通過下支撐梁(103)支撐于框形支架(101)的支座上；所述兩個上層平臺(104)的下方通過至少四根對稱的斜梁(105)連接一個下層平臺(106)。

2.根據權利要求1所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述上層平臺(104)為兩個端部呈針尖狀、且針尖端相對設置用于固定一維納米材料的水平平臺。

3.根據權利要求1所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述在上層平臺(104)與下層平臺(106)之間設置有兩組數量相等并且相對于微結構垂直中心線對稱的斜梁(105)。

4.根據權利要求3所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述斜梁(105)沿上層平臺(104)的兩端向微結構垂直中心線方向對稱傾斜設置，或沿上層平臺(104)垂直中心線方向至下層平臺(106)上臺面兩端對稱傾斜設置。

5.根據權利要求1或3所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述上豎直梁(102)和斜梁(105)分為左右兩組，每組至少采用兩根上豎直梁(102)和兩根斜梁(105)分別將框形支架(101)與上層平臺(104)及下層平臺(106)相連。

6.根據權利要求1所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述下層平臺(106)的中部表面開有用于對微機械結構施加載荷的定位孔。

7.根據權利要求1所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述下支撐梁(103)為豎直梁或對稱傾斜梁。

8.根據權利要求1所述的一種用于檢測一維納米材料力學性能的微結構，其特征在于：所述微結構采取多晶硅材質。