[發明專利]放射圖像檢測設備和放射攝影成像盒

無效

• 申請號: 201210021664.7
• 申請日: 2012-01-31
• 公開（公告）號: CN102650698A
• 公開（公告）日: 2012-08-29
• 發明（設計）人: 巖切直人;中津川晴康
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: G01T1/202
• 分類號: G01T1/202;G01N23/223;A61B6/00
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 夏東棟;陸錦華

1.一種放射圖像檢測設備，其包括：

放射圖像檢測設備主體，其包括閃爍器和光電探測單元，所述閃爍器將經由被攝體發射的輻射轉變成熒光，所述光電探測單元設置在所述閃爍器的輻射進入側上；以及

支持件，其設置在所述放射圖像檢測設備主體的輻射進入側上以支持被攝體，其中：

所述光電探測單元包括薄膜部和加強構件，所述薄膜部將熒光檢測為電信號，所述加強構件設置在所述薄膜部的相對于其面向所述閃爍器的一側的另一側上；并且

所述加強構件和所述支持件結合在一起并沿其間的接合平面保持相互緊密接觸。

2.根據權利要求1所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件和所述薄膜部結合在一起；并且

施加在所述加強構件和所述薄膜部之間的結合強度大于施加在所述加強構件和所述支持件之間的結合強度。

3.根據權利要求2所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件和所述薄膜部的相互相對的表面基本上整個地結合；并且

所述加強構件的面向所述支持件的相對表面的一部分結合到所述支持件。

4.根據權利要求2或3所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件和所述薄膜部通過第一粘合劑結合在一起；并且

所述加強構件和所述支持件通過第二粘合劑結合在一起，所述第二粘合劑的結合力小于所述第一粘合劑的結合力。

5.根據權利要求2或3所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件朝所述輻射進入側凸形地彎曲；并且

所述加強構件、所述薄膜部和所述閃爍器為平坦的或基本上平坦的，同時所述加強構件和所述薄膜部保持結合在一起。

6.根據權利要求2或3所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件朝所述輻射進入側凸形地彎曲；并且

所述加強構件、所述薄膜部和所述閃爍器在與所述加強構件的彎曲方向相反的方向上彎曲，同時所述加強構件和所述薄膜部保持結合在一起。

7.根據權利要求5所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述薄膜部和所述閃爍器在與所述加強構件的彎曲方向相反的方向上彎曲；并且

彎曲的薄膜部和所述閃爍器以及凸形地彎曲的加強構件結合在一起。

8.根據權利要求6所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件、所述薄膜部和所述閃爍器在與所述加強構件的彎曲方向相反的方向上彎曲，同時所述加強構件和所述薄膜部保持結合在一起；

所述支持件朝所述輻射進入側凸形地彎曲；并且

所述加強構件、所述薄膜部和所述閃爍器結合到所述支持件。

9.根據權利要求1至3中任一項所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件由X射線吸收材料形成，該X射線吸收材料的X射線吸收率低于玻璃材料的X射線吸收率；并且

所述加強構件相對于在60kV的管電壓下發射的X輻射的Al當量小于1.8mm。

10.根據權利要求9所述的放射圖像檢測設備，其中：

當使用所述支持件和所述加強構件時相對于在60kV的管電壓下發射的X輻射的Al當量小于1.8mm。

11.根據權利要求9所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述低X射線吸收材料為金屬(包括金屬化合物和合金)和/或樹脂。

12.根據權利要求11所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件包括樹脂層和設置在所述樹脂層的X射線進入側上的由金屬制成的光反射層。

13.根據權利要求1至3中任一項所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件為朝所述薄膜部反射從所述閃爍器發射的熒光的光反射構件。

14.根據權利要求13所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述加強構件和所述薄膜部結合在一起，同時粘合層被夾在所述加強構件和所述薄膜部之間；并且

所述粘合層的厚度為100微米或更小。

15.根據權利要求1至3中任一項所述的放射圖像檢測設備，其中：

所述薄膜部的至少一部分由非晶氧化物或有機材料形成。